Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2021, выпуск 10 » Статья стр. 1491
<<<>>>
АСМ исследование морфологии эластомеров на основе полиуретанимидов с различными жесткими и гибкими фрагментами
DOI: 10.21883/JTF.2021.10.51361.88-21
Переводная версия: 10.21883/TP.2022.13.52222.88-21
Министерство образования и науки Российской Федерации, частично при финансовой поддержке в рамках государственного задания , AAAA-A20-120022090042-8
Суханова Т.Е. 1, Светличный В.М. 2, Кузнецов Д.А. 2, Вылегжанина М.Э. 2, Ваганов Г.В. 2, Лебедев Н.В. 1
1Научно-исследовательский институт синтетического каучука им. акад. С.В. Лебедева, Санкт-Петербург, Россия
2Институт высокомолекулярных соединений Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: tat_sukhanova@bk.ru, valsvet@hq.macro.ru, kuznetcovda@hq.macro.ru, v.e.milana@gmail.com, glebvaganov@mail.ru, nick-sw@ya.ru
Поступила в редакцию: 30 марта 2021 г.
В окончательной редакции: 30 марта 2021 г.
Принята к печати: 30 марта 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.
PDF версия
Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) изучены морфологические характеристики поверхности ряда пленок эластомеров на основе полиуретанимидов (ПУИ). Обнаружены существенные различия в морфологии поверхности ПУИ пленок в зависимости от состава: от зернистой с различными размерами зерен или губчатой с нано- и субмикронными порами и кавернами на поверхности, до сферолитной морфологии. Показано, что у исследованных ПУИ пленок шероховатость свободных поверхностей, образованных при формировании из раствора, значительно ниже шероховатости поверхности, контактировавшей с подложкой. Установлено влияние химического строения и размеров жесткого диаминного фрагмента в макромолекулах ПУИ на морфологию поверхности пленок и наличие различных фаз в режиме контраста латеральных сил АСМ. Сравнение деформационно-прочностных характеристик показало высокие значения относительного удлинения при разрыве (более 1400%) у ПУИ пленок с развитой пористой структурой обоих поверхностей. Полученные результаты показывают необходимость контроля и учета морфологических параметров поверхностных слоев изделий из высокоэластичных имидсодержащих материалов для их использования в технических и других целях. Ключевые слова: синтез полиуретанимидов, атомно-силовая микроскопия, морфология пленок эластомеров, шероховатость поверхности, вязкостные и деформационно-прочностные характеристики.
  1. I. Yilgor, E. Yilgor, G.L. Wilkes. Polymer, 58, A1 (2015). https://doi.org/10.1016/j.polymer.2014.12.014
  2. B. Finnigan, K. Jack, K. Campbell, P. Halley, R. Truss, Ph. Casey, D. Cookson, S. King, D. Martin. Macromolecules, 38, 7386 (2005). https://doi.org/10.1021/ma0508911
  3. J. Chena, J. Zhanga, T. Zhua, Z. Huaa, Q. Chenb, X. Yub. Polymer, 42, 1493 (2001). DOI: 10.1016/S0032-3861(00)00527-9
  4. T. Kogiso, S. Inoue. J. Appl. Polymer. Sci., 115, 242 (2010). https://doi.org/10.1002/app.31126
  5. R.J. Gaymans. Prog. Polym. Sci., 36 (6), 713 (2011). DOI: 10.1016/j.progpolymsci.2010.07.012
  6. V.E. Yudin, V.E. Smirnova, A.L. Didenko, E.N. Popova, I.V. Gofman, A.V. Zarbuev, V.M. Svetlichnyi, V.V. Kudryavtsev. Russ. J. Appl. Chem., 86 (6), 920 (2013). DOI: 10.1134/S1070427213060232
  7. T.E. Sukhanova, T.A. Kuznetsova, V.A. Lapitskaya, T.I. Zubar, S.A. Chizhik, M.E. Vylegzhanina, A.A. Kutin, A.L. Didenko, V.M. Svetlichnyi. Atomic-Force Microscopy and Its Applications. Ed. by T. Tanski, M. Staszuk, B. Zi ebowicz (IntechOpen, London, 2019), p. 69. DOI: 10.5772/intechopen.78625
  8. T.A. Kuznetsova, T.I. Zubar, V.A. Lapitskaya, K.A. Sudzilouskaya, S.A. Chizhik, A.L. Didenko, V.M. Svetlichnyi, M.E. Vylegzhanina, V.V. Kudryavtsev, T.E. Sukhanova. IOP Conf. Ser.-Mat. Sci., 256, 012022 (2017). DOI: 10.1088/1757-899X/256/1/012022
  9. Т.Е. Суханова, Т.А. Кузнецова, М.Э. Вылегжанина, В.М. Светличный, А.А. Кутин, Т.И. Ширяева, С.А. Чижик. Тез. докл XIX Межд. симп. Нанофизика и наноэлектроника" (Н. Новгород, Россия, 2015), т. 1, c. 292--295
  10. Т.Е. Суханова, Т.А. Кузнецова, М.Э. Вылегжанина, А.Л. Диденко, Д.А. Кузнецов, В.М. Светличный, Т.И. Зубарь, В.А. Лапицкая, К.А. Судиловская, А.Я. Волков, А.А. Кутин, В.В. Кудрявцев, С.А. Чижик. Нанотехнологии: наука и производство, 4, 55 (2017)
  11. Т.Е. Суханова, Т.А. Кузнецова, М.Э. Вылегжанина, В.М. Светличный, Т.И. Зубарь, С.А. Чижик. Сб. докл. XII Межд. конф. Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии БелСЗМ-2016" (Минск, Беларусь, 2016), c. 8--17
  12. Т.Е. Суханова, Т.А. Кузнецова, М.Э. Вылегжанина, В.А. Лапицкая, А.А. Кутин, А.Л. Диденко, В.М. Светличный, С.А. Чижик. Сб. докл. XXIV Международного симпозиума Нанофизика и наноэлектроника" (Н. Новгород, Россия, 2020), т. 1, с. 400--401
  13. Д.А. Кузнецов, В.М. Светличный, А.Л. Диденко, Г.В. Ваганов, В.Ю. Елоховский, В.В. Кудрявцев, В.Е. Юдин. ЖПХ, 93 (10), 1418 (2020). DOI: 10.31857/S0044461820100023
  14. В.Л. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии (Институт физики микроструктур РАН, Н. Новгород, 2004)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme