Визуализация проводящих каналов в полимерных слоях методом атомно-силовой микроскопии с проводящим зондом
Корнилов В.М.1, Лачинов А.Н.2, Юсупов А.Р.1
1Башкирский государственный педагогический университет им. М. Акмуллы, Уфа, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского федерального исследовательского центра РАН, Уфа, Россия
Email: kornilov@anrb.ru
Поступила в редакцию: 29 марта 2021 г.
В окончательной редакции: 29 марта 2021 г.
Принята к печати: 29 марта 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.
Представлены результаты экспериментального исследования локальных электрофизических свойств ультратонких полимерных пленок методами атомно-силовой микроскопии с проводящим зондом. Установлено, что визуализация мест протекания тока (проводящих каналов) возможна на участках, с которых механическим образом удален поверхностный слой. Проводящие каналы на токовом изображении имеют вид отдельных точек с высотой, соответствующей локально протекающему току. Установлено, что расположение наблюдаемых каналов хорошо соотносится с моделью проводимости по границам зерен надмолекулярной структуры полимера. Ключевые слова: тонкие полимерные пленки, атомно-силовая микроскопия с проводящим зондом, проводящие каналы, надмолекулярная структура.
- D.S. Jeong, R. Thomas, R.S. Katiyar, J.F. Scott, H. Kohlstedt, A. Petraru, C.S. Hwang. Rep. Progr. Phys., 75, 076502 (2012). DOI: 10.1088/0034-4885/75/7/076502
- J.S. Lee, S. Lee, T. Won. Noh. Appl. Phys. Rev., 2, 031303 (2015). dx.doi.org/10.1063/1.4929512
- S. Slesazeck, T. Mikolajick. Nanotechnology, 30, 352003 (2019). DOI: org/10.1088/1361-6528/ab2084
- M. Zhao, B. Gao, J. Tang, H. Qian, H. Wu. Appl. Phys. Rev., 7, 011301 (2020). DOI: 10.1063/1.5124915
- Q.-D. Ling, D.-J. Liaw, C. Zhu, D.S.H. Chan, E.T. Kang, K.G. Neoh. Progr. Polymer Sci., 33, 917 (2008). DOI: 10.1016/j.progpolymsci.2008.08.001
- W.-P. Lin, S.-J. Liu, T. Gong, Q. Zhao, W. Huang. Adv. Mater., 26, 570 (2014). DOI: 10.1002/adma.201302637
- А.Н. Лачинов, Н.В. Воробьева. УФН, 176, 1249 (2006). DOI: 10.3367/UFNr.0176.200612a.1249 [A.N. Lachinov, N.V. Vorob'eva. Phys. Usp. 49, 1223 (2006). DOI: 10.1070/PU2006v049n12ABEH006176]
- G. Dearnaley, A.M. Stoneham, D.V. Morgan. Rep. Prog. Phys., 33, 1129 (1970)
- A. Sawa. Mater. Today, 11, 28 (2008). DOI: org/10.1016/S1369-7021(08)70119-6
- M. Trapatseli, D. Carta, A. Regoutz, A. Khiat, A. Serb, I. Gupta, T. Prodromakis. J. Phys. Chem. C, 119, 11958 (2015). DOI: 10.1021/acs.jpcc.5b01672
- D. Deleruyelle, C. Dumas, M. Carmona, C. Muller, S. Spiga, M. Fanciulli. Appl. Phys. Express, 4, 051101 (2011). DOI: 10.1143/APEX.4.051101
- Д.Д. Карамов, В.М. Корнилов, А.Н. Лачинов, В.А. Крайкин, И.А. Ионова. ЖТФ, 86, 124 (2016). [D.D. Karamov, V.M. Kornilov, A.N. Lachinov, V.A. Kraikin, I.A. Ionova. Tech. Phys., 61, 1085 (2016). DOI: org/10.1134/S106378421607015X]
- В.М. Корнилов, А.Н. Лачинов, Д.Д. Карамов, И.Р. Набиуллин, Ю.В. Кульвелис. ФТТ, 58, 1030 (2016). [V.M. Kornilov, A.N. Lachinov, D.D. Karamov, I.R. Nabiullin, Y.V. Kul'velis. Phys. Solid State, 58, 1065 (2016). DOI: 10.1134/S1063783416050115]
- Z. Shen, S. Hou, H. Sun, X. Zhao, Z. Xue. J. Phys. D: Appl. Phys., 37, 1357 (2004)
- S.L. Lim, Q. Ling, E.Y.H. Teo, C.X. Zhu, D.S.H. Chan, E.T. Kang, K.G. Neoh. Chem. Mater., 19, 5148 (2007). DOI: org/10.1021/cm071520x
- A. Ohtomo, H.Y. Hwang. Nature, 427, 423 (2004). DOI: org/10.1038/nature02308
- N. Nakagawa, H.Y. Hwang, D.A. Muller. Nature Mater., 5, 204 (2006). DOI: org/10.1038/nmat1569
- S. Thiel, G. Hammerl, A. Schmehl, C.W. Schneider, J. Mannhart. Sci., 313, 1942 (2006). DOI: 10.1126/science.1131091
- J. Kirtley, J. Mannhart. Nature Mater., 7, 520 (2008). DOI: org/10.1038/nmat2211
- R.M. Gadiev, A.N. Lachinov, R.B. Salikhov, R.G. Rakhmeev, V.M. Kornilov, A.R. Yusupov. Appl. Phys. Lett., 98, 173305 (2011). DOI: 10.1063/1.3584135
- A.R. Yusupov, R.M. Gadiev, A.N. Lachinov, V.M. Kornilov, L.R. Kalimullina, A.F. Galiev, M. Kian, S.N. Salazkin. Synthetic Met., 274, 116733 (2021). DOI: org/10.1016/j.synthmet.2021.116733
- Р.М. Гадиев, А.Н. Лачинов, А.Ф. Галиев, Л.Р. Калимуллина, И.Р. Набиуллин. Письма в ЖЭТФ, 100, 276 (2014). DOI: doi.org/10.7868/S0370274X14160073. [R.M. Gadiev, A.N. Lachinov, A.F. Galiev, L.R. Kalimullina, I.R. Nabiullin. JETP Lett.,, 100, 251 (2014). DOI: org/10.1134/S0021364014160061]
- E. Tutiv s, I. Batistic, D. Berner. Phys. Rev. B., 70, 161202(R) (2004). DOI: 10.1103/PhysRevB.70.161202
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.