Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики в сканирующей туннельной спектроскопии
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 1 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 13 июня 2021 г.
Принята к печати: 16 июня 2021 г.
Выставление онлайн: 2 августа 2021 г.
C помощью энергетических диаграмм асимметричных потенциальных барьеров, которые формируются при контакте двух металлов, обладающих различными работами выхода, рассмотрено влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики и спектры дифференциальной проводимости, получаемые с помощью сканирующей туннельной спектроскопии. Показано, что полученные выводы качественно согласуются с экспериментальными результатами для нанопленок иттербия толщиной 16 монослоев (6.08 nm). Однако количественно они существенно различаются. Проведен анализ этих различий. Ключевые слова: поверхность, электронная структура, контактная разность потенциалов, энергетическая диаграмма, потенциальный барьер, сканирующая туннельная спектроскопия.
- G.J. Chen. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (University Press, Oxford 2009), 423 p
- J.J. Kubby, J.J. Boland. Surf. Sci. Rep., 26, 61 (1996)
- H.J.W. Zandvliet, A.van Houselt. Annu. Rev. Anal. Chem., 2, 37 (2009)
- R.M. Feenstra, G.A. Frazier, Yu. Pan, S. Folsch, Yu.-C. Lin, B. Jarivala, K. Zhang, A. Robinson. J. Vac. Sci. Technol. A, 39, 011001 (2021)
- J.G. Simmons. J. Appl. Phys., 34, 2581 (1963)
- J.G. Simmons. Phys. Rev. Lett., 10, 10 (1963)
- R.G. Forbes. Renewing the Mainstream Theory of Field and Thermal Electron Emission. Ch. 9. P. 387-447. In: G. Gaertner, W. Knapp, R.G. Forbes. Modern Developments in Vacuum Electron Sources. Topics in Applied Physics (Springer, 2020), v. 135
- М.А. Митцев, М.В. Кузьмин. ФТТ, 58, 1794 (2016)
- Д.В. Бутурович, М.В. Кузьмин, М.В. Логинов, М.А. Митцев. ФТТ, 50,168 (2008)
- М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. ЖТФ, 90 (8), 1359 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.08.49548.81-20
- М.В. Кузьмин, М.А. Митцев. ЖТФ, 91 (7), 1189 (2021). DOI: 10.21883/JTF.2021.07.50961.18-21
- R. Young, J. Ward, F. Sclire. Phys. Rev. Lett., 27, 922 (1971)
- J.G. Simmons. J. Appl. Phys., 34, 1793 (1963)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
