Перспективные длины волн для проекционной литографии с использованием синхротронного излучения
Чхало Н.И.1, Полковников В.Н.1, Салащенко Н.Н.1, Шапошников Р.А.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: chkhalo@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 26 апреля 2022 г.
В окончательной редакции: 26 апреля 2022 г.
Принята к печати: 26 апреля 2022 г.
Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.
Обсуждены перспективные длины волн для литографии следующего поколения на базе синхротронного источника рентгеновского излучения. Приведены теоретические и экспериментальные значения коэффициентов отражения многослойных рентгеновских зеркал, обеспечивающих максимальную отражательную способность в диапазоне 11.4-3.1 nm. Проведено сравнение теоретической эффективности многослойной оптики для различных длин волн. Ключевые слова: рентгеновская литография, многослойная рентгеновская оптика, многослойные рентгеновские зеркала.
- [Электронный ресурс] Режим доступа: https://www.asml.com/en/products/euv-lithography-systems/ twinscan-nxe3400b
- A. Pirati, J. van Schoot, K. Troost, R. van Ballegoij, P. Krabbendam, J. Stoeldraijer, E. Loopstra, J. Benschop, J. Finders, H. Meiling, E. van Setten, N. Mika, J. Dredonx, U. Stamm, B. Kneer, B. Thuering, W. Kaiser, T. Heil, S. Migura. Proc. SPIE, 10143, 101430G (2017). DOI: 10.1117/12.2261079
- Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало. Вестник РАН, 78 (5), 450 (2008)
- S.S. Andreev, M.M. Barysheva, N.I. Chkhalo, S.A. Gusev, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, L.A. Shmaenok, Yu.A. Vainer, S.Yu. Zuev. Nucl. Instrum. Methods in Phys. Res. A, 603 (1-2), 80 (2009). DOI: 10.1016/j.nima.2008.12.165
- N.I. Chkhalo, S. Kunstner, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, F. Schafers, S.D. Starikov. Appl. Phys. Lett., 102, 011602 (2013). DOI: 10.1063/1.4774298
- D.S. Kuznetsov, A.E. Yakshin, J.M. Sturm, R.W.E. van de Kruijs, E. Louis, F. Bijkerk. Opt. Lett., 40 (16), 3776 (2015). DOI: 10.1364/OL.40.003778
- S.S. Churilov, R.R. Kildiyarova, A.N. Ryabtsev, S.V. Sadovsky. Phys. Scr., 80 (4), 045303 (2009). DOI: 10.1088/0031-8949/80/04/045303
- T. Otsuka, D. Kilbane, J. White, T. Higashiguchi, N. Yugami, T. Yatagai, W. Jiang, A. Endo, P. Dunne, G. O'Sullivan. Appl. Phys. Lett., 97, 111503 (2010). DOI: 10.1063/1.3490704
- N.I. Chkhalo, N.N. Salashchenko. AIP Adv., 3 (8), 082130 (2013). DOI: 10.1063/1.4820354
- B.L. Henke, P. Lee, T.J. Tanaka, R.L. Shimabukuro, B.K. Fujkawa. Atom. Nucl. Data Table, 27 (1982). DOI: 10.1016/0092-640X(82)90002-X
- B.L. Henke, E.M. Gullikson, J.C. Davis. Atom. Data and Nuclear Data Tables, 54 (2), 181-342 (1993). DOI: 10.1006/ADND.1993.1013
- А.В. Виноградов, И.А. Брытов, Ф.Я. Грудский, М.Т. Коган, И.В. Кожевников, В.А. Слемзин. Зеркальная рентгеновская оптика, под общей ред. А.В. Виноградова (Машиностроение. Ленинградское отд., Л., 1989)
- A.V. Vinogradov, B.Ya. Zeldovich. Appl. Opt., 16 (1), 89 (1977). DOI: 10.1364/AO.16.000089
- В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Н.И. Чхало. УФН, 190, 92 (2020). DOI: 10.3367/UFNr.2019.05.038623
- C. Burcklen, S. de Rossi, E. Meltchakov, D. Denneti\`ere, B. Capitanio, F. Polack, F. Delmotte. Opt. Lett., 42 (10), 1927 (2017). DOI: 10.1364/OL.42.001927
- В.Н. Полковников, С.А. Гарахин, Д.С. Квашенников, И.В. Малышев, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Р.М. Смертин, Н.И. Чхало. ЖТФ, 90 (11), 1893-1897 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49980.143-20
- I.A. Artyukov, Y. Bugayev, O.Yu. Devizenko, R.M. Feschenko, Y.S. Kasyanov, V.V. Kondratenko, S.A. Romanova, S.V. Saveliev, F. Schafers, T. Feigl, Y.A. Uspenski, A.V. Vinogradov. Proc. SPIE, 5919, 59190E (2005). DOI: 10.1117/12.620037
- D.L. Windt, E.M. Gullikson. Appl. Opt., 54 (18), 5850 (2015). DOI: 10.1364/AO.54.005850
- V.N. Polkovnikov, R.A. Shaposhnikov, N.I. Chkhalo, N.N. Salashchenko, N.A. Djuzhev, F.A. Pudonin, G.D. Demin. Bull. Lebedev Phys. Institute, 48 (12), 406 (2021). DOI: 10.3103/S1068335621120101
- B. Sae-Lao, C. Montcalm. Opt. Lett., 26 (7), 468 (2001). DOI: 10.1364/OL.26.000468
- В.Н. Полковников, Р.А. Шапошников, C.Ю. Зуев, М.В. Свечников, М.Г. Сертсу, А. Соколов, Ф. Шаферс, Н.И. Чхало. Матер. XXVI Междунар. симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника", 1, 585 (2022)
- C. Montcalm, S. Bajt, P. Mirkarimi, E. Spiller, F. Weber, J. Folta. SPIE, 3331, 42 (1998). DOI: 10.1117/12.309600
- M.V. Svechnikov, N.I.Chkhalo, S.A. Gusev, A.N. Nechay, D.E. Pariev, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, D.A. Tatarskiy, N.N. Salashchenko, Y.A. Vainer, M.V. Zorina, F. Schafers, M.G. Sertsu, A. Sokolov. Opt. Express, 26 (26), 33718 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.033718
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.