Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2023, выпуск 7 » Статья стр. 1009
<<<>>>
Особенности протекания твердофазных реакций в трехслойной пленочной системе Sn/Fe/Cu
DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55761.73-23
Переводная версия: 10.61011/TP.2023.07.56642.73-23
Балашов Ю.Ю.1, Мягков В.Г.1, Быкова Л.Е.1, Волочаев М.Н.1, Жигалов В.С.1, Мацынин А.А.1, Галушка К.А.2, Бондаренко Г.Н.1, Комогорцев С.В. 1
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Email: Y.balashov@yandex.ru, lebyk@iph.krasn.ru, volochaev91@mail.ru, zhigalov@iph.krasn.ru, matsyninaa@gmail.com, dir_efir@sfu-kras.ru, komogor@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 6 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 6 апреля 2023 г.
Принята к печати: 6 апреля 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2023 г.
PDF версия
Выяснение механизмов твердофазных реакций в тонких пленках Sn/Fe/Cu интересно как с фундаментальной точки зрения, так и в виду важности формирующихся интерметаллидов в технологии контактных соединений и тонкопленочных литий-ионных аккумуляторов. С помощью комплексного подхода, включающего рентгенофазовый анализ и локальный элементный анализ поперечного среза пленки, изучены фазовый состав и взаимное расположение фаз на различных стадиях твердофазной реакции, протекающей при различных температурах. Наблюдаемая последовательность формирующихся фаз существенно отличается от ожидаемой, если бы массоперенос осуществлялся посредством объемной диффузии через формирующиеся слои. Ключевые слова: тонкие пленки, просвечивающая электронная микроскопия, энергодисперсионная спектроскопия, механизмы массопереноса.
  1. V.G. Myagkov, L.E. Bykova, A.A. Matsynin, M.N. Volochaev, V.S. Zhigalov, I.A. Tambasov, Yu.L. Mikhlin, D.A. Velikanov, G.N. Bondarenkoю. J. Solid State Chem., 246, 379 (2017). DOI: 10.1016/j.jssc.2016.12.010
  2. E.G. Colgan. Mater. Sci. Reports, 5, 1 (1990). DOI: 10.1016/S0920-2307(05)80005-2
  3. D.P. Adams. Thin Solid Films, 576, 98 (2015). DOI: 10.1016/j.tsf.2014.09.042
  4. V. Myagkov, O. Bayukov, Yu. Mikhlin, V. Zhigalov, L. Bykova, G. Bondarenko. Philos. Mag., 94, 2595 (2014). DOI: 10.1080/14786435.2014.926037
  5. J. Gorlich, G. Schmitz, K.N. Tu. Appl. Phys. Lett., 86, 053106 (2005). DOI: 10.1063/1.1852724
  6. Y.Q. Wu, S.D. McDonald, J. Read, H. Huang, K. Nogita. Scripta Mater., 68, 595 (2013). DOI: 10.1016/j.scriptamat.2012.12.012
  7. P.Y. Chia, A.S.M.A. Haseeb. J. Mater Sci: Mat. Electron., 26, 294 (2015). DOI: 10.1007/s10854-014-2398-9
  8. W.H. Pu, X.M. He, J.G. Ren, C.R. Wan, C.Y. Jiang. Electrochim. Acta., 50, 4140 (2005). DOI: 10.1016/j.electacta.2005.01.041
  9. O. Mao, R.A. Dunlap, J.R. Dahn. J. Electrochem. Soc., 146, 405 (1999). DOI: 10.1149/1.1391622
  10. O. Mao, J.R. Dahn. J. Electrochem. Soc., 146, 414 (1999). DOI: 10.1007/s10854-014-2398-9
  11. H. Shao, A. Wu, Y. Bao, Y. Zhao, G. Zou, L. Liu. Microelectron. Reliability, 91, 38 (2018). DOI: 10.1016/j.microrel.2018.08.004
  12. V.G. Myagkov, V.S. Zhigalov, L.E. Bykova, L.A. Solovyov, A.A. Matsynin, Yu.Yu. Balashov, I.V. Nemtsev, A.V. Shabanov, G.N. Bondarenko. J. Mater. Res., 36, 3121 (2021). DOI: 10.1557/s43578-021-00312-4
  13. Л.Е. Быкова, С.М. Жарков, В.Г. Мягков, Ю.Ю. Балашов, Г.С. Патрин. ФТТ, 63 (12), 2205 (2021). DOI: 10.21883/FTT.2021.12.51685.139
  14. L.E. Bykova, V.G. Myagkov, Y.Y. Balashov, V.S. Zhigalov, G.S. Patrin. J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys., 15 (4), 493 (2022). DOI: 10.17516/1997-1397-2022-15-4-493-499
  15. J.M. Purswani, T. Spila, D. Gall. Thin Solid Films, 515, 1166 (2006). DOI: 10.1016/j.tsf.2006.07.142
  16. K.N. Tu, R.D. Thompson. Acta Metall, 30, 947 (1982). DOI: 10.1016/0001-6160(82)90201-2
  17. M. Hida, M. Kajihara. Mater. Trans., 53, 1240 (2012). DOI: 10.2320/matertrans.M2012060
  18. V. Vuorinen, T. Laurila, T. Mattila, E. Heikinheimo, J.K. Kivilahti. J. Electron. Mater., 36, 1355 (2007). DOI: 10.1007/s11664-007-0251-0

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme