Вышедшие номера
Особенности трансформации микрорельефа структур "кремний на изоляторе" при воздействии фотонных и корпускулярных излучений
Логинов Б.А. 1, Блинников Д.Ю.2, Второва В.C.2, Кириллова В.В.2, Ляшко Е.А.2, Макеев В.С.2, Первых А.Р.2, Абросимова Н.Д.3, Забавичев И.Ю. 3,4, Пузанов А.С. 3,4, Волкова Е.В.4, Тарасова Е.А. 4, Оболенский С.В.3,4
1Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники", Москва, Зеленоград, Россия
2Образовательный центр "Сириус", Сочи, Россия
3Российский федеральный ядерный центр --- Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики, филиал Российского федерального ядерного центра --- Всероссийского научно-исследовательского института экспериментальной физики "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова", Нижний Новгород, Россия
4Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: b-loginov@mail.ru, blinnikovdanil@yandex.ru, vlada_vtorova@mail.ru, uctasili@yandex.ru, ea.lyashko@gmail.com, sevulek06@gmail.com, pervantrom@gmail.com, zabavichev.rf@gmail.com, aspuzanov@inbox.ru, volkova@rf.unn.ru, tarasova@rf.unn.ru, andnenastik@inbox.ru
Поступила в редакцию: 4 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 4 мая 2023 г.
Принята к печати: 4 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2023 г.

Приведены результаты исследований параметров микрорельефа и электрофизических характеристик структур "кремний на изоляторе" после воздействия гамма- и гамма-нейтронного излучения. Экспериментальные исследования проведены методами атомно-силовой микроскопии и псевдо-МДП транзистора. На основе полученных данных проведена оценка эффективного радиуса ядер кластеров радиационных дефектов. Ключевые слова: Атомно-силовая микроскопия, кремний на изоляторе, "допороговое" дефектообразование, кластеры радиационных дефектов.