Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2025, выпуск 1 » Статья стр. 98
<<<>>>
Оптические, электрические и радиоэкранирующие свойства тонких пленок на основе серебряных нанопроволок
Государственное задание министерства науки и высшего образования Российской Федерации, FSFN-2024-0016
Государственное задание министерства науки и высшего образования Российской Федерации, FWES-2024-0026
Воронин А.С.1,2,3, Бриль И.И.2, Фадеев Ю.В.1,2, Павликов А.Ю.3, Симунин М.М.2,3, Волочаев М.Н.4, Говорун И.В.4, Подшивалов И.В. 4, Макеев М.О. 1, Михалев П.А.1, Паршин Б.А.1, Хартов С.В.2
1Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Национальный исследовательский университет), Москва, Россия
2Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН, Красноярск, Россия
3Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
4Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Email: a.voronin1988@mail.ru, ellaijiah@gmail.com, daf.hf@list.ru, apavlikov98@mail.ru, michanel@mail.ru, govorun-ilya@mail.ru, podshivalov.ivan@gmail.com, m.makeev@bmstu.ru, pamikhalev@bmstu.ru, parshbgal@bmstu.ru, stas_f1@list.ru
Поступила в редакцию: 10 июля 2024 г.
В окончательной редакции: 30 октября 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 6 января 2025 г.
PDF версия
Описаны процесс получения серебряных нанопроволок (AgNW) и методика изготовления тонких пленок на их основе методом вакуумной фильтрации. Толщина пленок задавалась объемом базовой дисперсии. С целью улучшения физико-механических и адгезионных свойств пленок AgNW были интегрированы в полиуретановую подложку. Проведены комплексные исследования морфологии и структуры как единичных AgNW, так и их пленок. Исследование оптоэлектрических характеристик показало, что пленки AgNW обладают равномерным пропусканием в видимом диапазоне свыше 500 nm. Также были изучены радиоэкранирующие свойства пленочных структур в K- и Ka-диапазонах. Показано, что пленки AgNW имеют высокий коэффициент экранирования, составляющий более 25 dB во всем исследуемом частотном диапазоне, при этом оптическое пропускание на длине волны 550 nm составило 69.25%. Ключевые слова: серебряные нанопроволоки, коэффициент экранирования, тонкие пленки, электрические свойства, оптические свойства.
  1. S.M. Zachariah, Y. Grohens, N. Kalarikkal, S. Thomas. Polym. Compos., 43, 2507 (2022). DOI: 10.1002/pc.26595
  2. Z. Chen, C. Xu, C. Ma, W. Ren, H.-M. Cheng. Adv. Mater., 25, 1296 (2013). DOI: 10.1002/adma.201204196
  3. W. Sihai, D.D.L. Chung. Cem. Concr. Res., 34, 329 (2004). DOI: 10.1016/j.cemconres.2003.08.014
  4. W. van Eck. Comput. Secur. Comput. Secur., 4, 269 (1985). DOI: 10.1016/0167-4048(85)90046-X
  5. I. Kubiak, A. Boitan, S. Halunga. Adv. Sci. Inst. Ser. E Appl. Sci., 10, 2828 (2020). DOI: 10.3390/app10082828
  6. А.С. Воронин, Ю.В. Фадеев, И.В. Говорун, А.С. Волошин, И.А. Тамбасов, М.М. Симунин, С.В. Хартов. Письма в ЖТФ, 47 (5), 31 (2021). DOI: 10.21883/PJTF.2021.05.50674.18496
  7. G.M. Olson, J.S. Olson. Annu. Rev. Psychol., 54, 491 (2003). DOI: 10.1146/annurev.psych.54.101601.145044
  8. D. Tan, C. Jiang, Q. Li, S. Bi, X. Wang, J. Song. J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 32, 25603 (2021). DOI: 10.1007/s10854-021-05409-4
  9. Z. Liang, Z. Zhao, M. Pu, J. Luo, X. Xie, Y. Wang, Y. Guo, X. Ma, X. Luo. Opt. Mater. Express, OME, 10, 796 (2020). DOI: 10.1364/OME.386830
  10. H. Wang, C. Ji, C. Zhang, Y. Zhang, Z. Zhang, Z. Lu, J. Tan, L.J. Guo. ACS Appl. Mater. Interfaces, 11 (12), 11782 (2019). DOI: 10.1021/acsami.9b00716
  11. Z. Wang, B. Jiao, Y. Qing, H. Nan, L. Huang, W. Wei, Y. Pen, F. Yuan, H. Dong, X. Hou, Z. Wu. ACS Appl. Mater. Interfaces, 12 (2), 2826 (2019). DOI: 10.1021/acsami.9b17513
  12. H. Yang, S. Bai, X. Guo, H. Wang. Appl. Surf. Sci., 483, 888 (2019). DOI: 10.1016/j.apsusc.2019.04.034
  13. D.H. Kim, Y. Kim, J.-W. Kim. Mater. Des., 89, 703 (2016). DOI: 10.1016/j.matdes.2015.09.142
  14. R. Sahoo, R. Sundara, V. Subramanian. Mat. Today: Proceed., 94, 29 (2023). DOI: 10.1016/j.matpr.2023.05.329
  15. L.-C. Jia, D.-X. Yan, X. Liu, R. Ma, H.-Y. Wu, Z.-M. Li. ACS Appl. Mater. Interfaces, 10 (14), 11941 (2018). DOI: 10.1021/acsami.8b00492
  16. И.А. Тамбасов, А.С. Воронин, Н.П. Евсевская, Ю.М. Кузнецов, А.В. Лукьяненко, Е.В. Тамбасова, М.О. Горнаков, М.В. Дорохин, Ю.Ю. Логинов. ФТТ, 62 (6), 960 (2020). [I.A. Tambasov, A.S. Voronin, N.P. Evsevskaya, Y.M. Kuznetsov, A.V. Luk'yanenko, E.V. Tambasova, M.O. Gornakov, M.V. Dorokhin, Yu.Yu. Loginov. Phys. Solid State, 62, 1090 (2020). DOI: 10.1134/S1063783420060311]
  17. Standard Test Method for Pull-off Strength of Coatings Using Portable Adhesion Testers. https://www.astm.org/d4541-22.html
  18. K.S. Lau, S.X. Chin, S.T. Tan, F.S. Lim, W.S. Chang, C.C. Yap, M.H. Hj Jumali, S. Zakaria, S.W. Chook, C.H. Chia. J. Alloys Compd., 803, 165 (2019). DOI: 10.1016/j.jallcom.2019.06.258
  19. C.J. Johnson, E. Dujardin, S.A. Davis, C.J. Murphy, S.J. Mann. Mater. Chem., 12, 1765 (2002). DOI: 10.1039/B200953F
  20. C.S. Todd, X. Chen. Appl. Spectrosc., 74 (2), 204 (2019). DOI: 10.1177/0003702819891060
  21. Y. Gao, P. Jiang, L. Song, L. Liu, X. Yan, Z. Zhou, D. Liu, J. Wang, H. Yuan, Z. Zhang. J. Phys. D Appl. Phys., 38, 1061 (2005). DOI: 10.1088/0022-3727/38/7/015
  22. Y. Gao, L. Song, P. Jiang, L.F. Liu, X.Q. Yan, Z.P. Zhou, D.F. Liu, J.X. Wang, H.J. Yuan, Z.X. Zhang, X.W. Zhao, X.Y. Dou, W.Y. Zhou, G. Wang, S.S. Xie, H.Y. Chen, J.Q. Li. J. Cryst. Growth, 276, 606 (2005). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2004.11.396
  23. Y. Sun, Y. Ren, Y. Liu, J. Wen, J.S. Okasinski, D.J. Miller. Nat. Commun., 3, 1 (2012). DOI: 10.1038/ncomms1963
  24. G. Khanarian, J. Joo, X.-Q. Liu, P. Eastman, D. Werner, K. O'Connell, P.J. Trefonas. Appl. Phys., 114, 024302 (2013). DOI: 10.1063/1.4812390
  25. X. Li, J. Zhou, D. Yan, Y. Peng, Y. Wang, Q. Zhou, K. Wang. Materials, 14, 2219 (2021). DOI: 10.3390/ma14092219
  26. N.H. Mudri, L.C. Abdullah, M.M. Aung, M.Z. Salleh, D.R. Awang Biak, M. Rayung. Polymers, 12, 1494 (2020). DOI: 10.3390/polym12071494
  27. S. Sorel, P.E. Lyons, S. De, J.C. Dickerson, J.N. Coleman. Nanotechnology, 23, 185201 (2012). DOI: 10.1088/0957-4484/23/18/185201
  28. S. De, T.M. Higgins, P.E. Lyons, E.M. Doherty, P.N. Nirmalraj, W.J. Blau, J.J. Boland, J.N. Coleman. ACS Nano, 3 (7), 1767 (2009). DOI: 10.1021/nn900348c
  29. R.M. Mutiso, M.C. Sherrott, A.R. Rathmell, B.J. Wiley, K.I. Winey. ACS Nano, 7 (9), 7654 (2013). DOI: 10.1021/nn403324t
  30. A.S. Voronin, F.S. Ivanchenko, M.M. Simunin, A.V. Shiverskiy, A.S. Aleksandrovsky, I.V. Nemtsev, Y.V. Fadeev, D.V. Karpova, S.V. Khartov. Appl. Surf. Sci., 364, 931 (2016). DOI: 10.1016/j.apsusc.2015.12.182
  31. IEC 60050 --- International Electrotechnical Vocabulary. https://www.electropedia.org/
  32. H. Wang, S. Li, M. Liu, J. Li, X. Zhou. Macromol. Mater. Eng., 306, 2100032 (2021). DOI: 10.1002/mame.202100032
  33. S.H. Ryu, Y.K. Han, S.K. Kwon, T. Kim, B.M. Jung, S.-B. Lee, B. Park. Chem. Eng. J., 428, 131167 (2022). DOI: 10.1016/j.cej.2021.131167
  34. Y. Han, Y. Liu, L. Han, J. Lin, P. Jin. Carbon NY., 115, 34 (2017).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme