Исследование поверхности и подповерхностного слоя подложек, полученных из CVD-алмазов после ультратонкой полировки
Ministry of Science and Education of the Russian Federation, STATE TASK, 075-00296-24-00
Кан В.Е.1,2, Худолей А.Л.3, Иржак Д.В.4, Князев М.А.4, Теплова Т.Б.1
1ФРЕЗАРТ СВ, Москва, Россия
2Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук, Омск, Россия
3Институт тепло- и массообмена им. А.В. Лыкова НАН Беларуси, Минск, Беларусь
4Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, Московская обл., Россия
Email: vasiliy_kan@mail.ru
Поступила в редакцию: 24 октября 2024 г.
В окончательной редакции: 24 октября 2024 г.
Принята к печати: 24 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 31 января 2025 г.
Представлены результаты исследования поверхностей алмазных подложек, обработанных различными методами полировки. Продемонстрировано, что для получения высококачественной поверхности алмаза перспективным является применение метода магнитореологического полирования. В подтверждение данного вывода приведены результаты исследования шероховатостей поверхностей алмаза методами оптической профилометрии, атомно-силовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Ключевые слова: алмаз, полировка, сверхтвердые материалы, подповерхностный слой.
- Р.А. Хмельницкий, Н.Х. Талипов, Г.В. Чучева. Синтетический алмаз для электроники и оптики (ИКАР, М., 2017)
- Т.Б. Теплова. Прецизионная обработка поверхностного слоя твердых и сверхтвердых хрупких материалов в режиме квазипластичности. (Техносфера, М., 2023), с. 218
- А.Л. Худолей, В.Л. Колпащиков, Г.Р. Городкин. Тез. докл. II Российско-Белорусской научно-технической конференции им. О.В. Лосева "Элементная база отечественной радиоэлектроники: импортозамещение и применение" (Нижний Новгород, Россия, 2015), т. 1, с. 283-286
- В.И. Кордонский, С.Р. Городкин. Оптическое материаловедение и технология, 79 (9), 81 (2012)
- V. Holy, U. Pietsch, T. Baumbach. High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Berlin, Heidelberg, 1999), DOI: 10.1007/BFb0109385