Многослойные зеркала на основе рубидия для мягкого рентгеновского излучения
Ямщикова М.А.1,2, Рогачев В.Г.1, Шкуринов А.П.2
1Институт лазерно-физических исследований, РФЯЦ-ВНИИЭФ, Саров, Нижегородская обл., Россия
2МГУ им. М.В. Ломоносова, физический факультет и филиал в г. Саров, Саров, Нижегородская обл., Россия
Email: ya_maria94@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 июля 2024 г.
В окончательной редакции: 15 мая 2025 г.
Принята к печати: 8 июля 2025 г.
Выставление онлайн: 11 сентября 2025 г.
Проведено теоретическое исследование построения рентгеновских многослойных зеркал на основе рубидия для диапазона длин волн 11-17 nm. С помощью генетического алгоритма решена задача оптимизации многослойной конфигурации таких зеркал. Обосновывается возможность достижения максимального теоретического предела отражательной способности 78 % для Ru/Rb-зеркал на длине волны 13.5 nm и 83 % для Al/Rb-зеркал на длине волны в окрестности 17.0-17.1 nm. Ключевые слова: рентгеновское излучение, многослойные металлические зеркала, показатель преломления, отражательная способность, спектральная селективность, генетический алгоритм.
- B.L. Henke, E.M. Gullikson, J.C. Davis. Atomic Data and Nuclear Data Tables, 54 (2), 181 (1993)
- А. Мишетт. Оптика мягкого рентгеновского излучения (Мир, М., 1989)
- N. Chkhalo, S. Gusev, A. Nechay, D. Pariev, V. Polkovnikov, N. Salashchenko, F. Schafers, M. Sertsu, A. Sokolov, M. Svechnikov, D. Tatarsky. Opt. Lett., 42 (24), 5070 (2017). DOI: https://doi.org/10.1364/OL.42.005070
- Ю.А. Вайнер, С.А. Гарахин, С.Ю. Зуев, А.Н. Нечай, Р.С. Плешков, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, М.Г. Сертсу, Р.М. Смертин, А. Соколов, Н.И. Чхало, Ф. Шаферс. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2, 3 (2020). DOI: 10.31857/S1028096020020168
- В.Н. Полковников, Р.А. Шапошников, Н.И. Чхало, Н.Н. Салащенко, Н.А. Дюжев, Ф.А. Пудонин, Г.Д. Демин. Краткие сообщения по физике ФИАН, 12, 58 (2021)
- Р.А. Шапошников, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало. ЖТФ, 92 (8), 1179 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52780.124-22
- С.В. Кузин, А.А. Рева, С.А. Богачев, Н.Ф. Ерхова, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, В.Н. Полковников. ЖТФ, 90 (11), 1817 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49967.113-20
- N.I. Chkhalo, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov N.N. Salashchenko, R.A. Shaposhnikov, I.L. Stroulea, M.V. Svechnikov, Yu.A. Vainer, S.Yu. Zuev. Thin Solid Films, 631, 106 (2017). DOI: 10.1016/j.tsf.2017.04.020
- А.Д. Ахсахалян, Е.Б. Клюенков, А.Я. Лопатин, В.И. Лучин, А.Н. Нечай, А.Е. Пестов, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, М.Н. Торопов, Н.Н. Цыбин, Н.И. Чхало, А.В. Щербаков. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1, 5 (2017)
- В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Н.И. Чхало. УФН, сер. "Конференции и симпозиумы", 190 (1), 92 (2020). DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.2019.05.038623
- Е.А. Вишняков, Д.Л. Воронов, Э.M. Гулликсон, В.В. Кондратенко, И.А. Копылец, М.С. Лугинин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Квант. электрон., 43 (7), 666 (2013)
- Д.С. Квашенников, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, F. Delmotte, E. Meltchakov. ЖТФ, 89 (11), 1774 (2019). DOI: 10.21883/JTF.2019.11.48343.129-19
- Е.А. Вишняков, Ф.Ф. Каменец, В.В. Кондратенко, М.С. Лугинин, А.В. Панченко, Ю.П. Першин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин. Квант. электрон., 42 (2), 143 (2012)
- Т.В. Панченко. Генетические алгоритмы: учебно-методическое пособие (Издат. дом "Астраханский университет", Астрахань, 2007)
- М.М. Барышева, С.А. Гарахин, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Р.М. Смертин, Н.И. Чхало, E. Meltchakov. ЖТФ, 89 (11), 1763 (2019). DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52770.118-22
- С.А. Гарахин, A.Я. Лопатин, А.Н. Нечай, А.А. Перекалов, А.Е. Пестов, Н.Н. Салащенко, Н.Н. Цыбин, Н.И. Чхало. ЖТФ, 93 (7), 1002 (2023). DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55760.60-23
- Ю.А. Новикова. Автореф. канд. дисс. (Гос. ун-т аэрокосмического приборостроения, СПб., 2015)
- F. Abeles. Ann. Phys., 3 (4), 504 (1948)
- М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики (Наука, М., 1970), 720 с
- П.Х. Бернинг. Теория и методы расчета оптических свойств тонких. Сб. физика тонких пленок (Мир, М., 1967) [Под общ. ред. Г. Хасса и Р.Э. Тауна; перевод с англ. под ред. В.Б. Сандомирского и А.Г. Ждана]
- N. Kaiser, S. Yulin, M. Perske, T. Feigl. Proceedings in SPIE, 7101, 71010Z-1 (2008). DOI: 10.1117/12.796150
- S. Bajt, J.B. Alameda, T. Barbee, W.M. Clift. Proceedings in SPIE, Optical Engineering, 41 (8), 1797 (2002). DOI: 10.1117/1.1489426
- M. Saedi, C. Sfiligoj, J. Verhoeven, J.W.M. Frenkena. Appl. Surf. Sci., 507, 1 (2020). DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.144951
- E. Louis, A.E. Yakshin, P.C. Gorts, S. Oestreich, R. Stuik, M.J.H. Kessels, E.L.G. Maas, F. Bijkerk, M. Haidl, S. Muellender, M. Mertin, D. Schmitz, F. Scholze, G. Ulm. Proc. SPIE, 3997, (2000). DOI: 10.1117/12.390077
- S.A. Yulin, I.V. Kozevnikov, S.I. Sagitov, V.A. Chirkov, V.E. Levashov, A.V. Vinogradov. Appl. Opt., 32 (10), 1811 (1993).