Вышедшие номера
Многослойные зеркала на основе рубидия для мягкого рентгеновского излучения
Ямщикова М.А.1,2, Рогачев В.Г.1, Шкуринов А.П.2
1Институт лазерно-физических исследований, РФЯЦ-ВНИИЭФ, Саров, Нижегородская обл., Россия
2МГУ им. М.В. Ломоносова, физический факультет и филиал в г. Саров, Саров, Нижегородская обл., Россия
Email: ya_maria94@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 июля 2024 г.
В окончательной редакции: 15 мая 2025 г.
Принята к печати: 8 июля 2025 г.
Выставление онлайн: 11 сентября 2025 г.

Проведено теоретическое исследование построения рентгеновских многослойных зеркал на основе рубидия для диапазона длин волн 11-17 nm. С помощью генетического алгоритма решена задача оптимизации многослойной конфигурации таких зеркал. Обосновывается возможность достижения максимального теоретического предела отражательной способности 78 % для Ru/Rb-зеркал на длине волны 13.5 nm и 83 % для Al/Rb-зеркал на длине волны в окрестности 17.0-17.1 nm. Ключевые слова: рентгеновское излучение, многослойные металлические зеркала, показатель преломления, отражательная способность, спектральная селективность, генетический алгоритм.
  1. B.L. Henke, E.M. Gullikson, J.C. Davis. Atomic Data and Nuclear Data Tables, 54 (2), 181 (1993)
  2. А. Мишетт. Оптика мягкого рентгеновского излучения (Мир, М., 1989)
  3. N. Chkhalo, S. Gusev, A. Nechay, D. Pariev, V. Polkovnikov, N. Salashchenko, F. Schafers, M. Sertsu, A. Sokolov, M. Svechnikov, D. Tatarsky. Opt. Lett., 42 (24), 5070 (2017). DOI: https://doi.org/10.1364/OL.42.005070
  4. Ю.А. Вайнер, С.А. Гарахин, С.Ю. Зуев, А.Н. Нечай, Р.С. Плешков, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, М.Г. Сертсу, Р.М. Смертин, А. Соколов, Н.И. Чхало, Ф. Шаферс. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2, 3 (2020). DOI: 10.31857/S1028096020020168
  5. В.Н. Полковников, Р.А. Шапошников, Н.И. Чхало, Н.Н. Салащенко, Н.А. Дюжев, Ф.А. Пудонин, Г.Д. Демин. Краткие сообщения по физике ФИАН, 12, 58 (2021)
  6. Р.А. Шапошников, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало. ЖТФ, 92 (8), 1179 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52780.124-22
  7. С.В. Кузин, А.А. Рева, С.А. Богачев, Н.Ф. Ерхова, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, В.Н. Полковников. ЖТФ, 90 (11), 1817 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49967.113-20
  8. N.I. Chkhalo, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov N.N. Salashchenko, R.A. Shaposhnikov, I.L. Stroulea, M.V. Svechnikov, Yu.A. Vainer, S.Yu. Zuev. Thin Solid Films, 631, 106 (2017). DOI: 10.1016/j.tsf.2017.04.020
  9. А.Д. Ахсахалян, Е.Б. Клюенков, А.Я. Лопатин, В.И. Лучин, А.Н. Нечай, А.Е. Пестов, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, М.Н. Торопов, Н.Н. Цыбин, Н.И. Чхало, А.В. Щербаков. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1, 5 (2017)
  10. В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Н.И. Чхало. УФН, сер. "Конференции и симпозиумы", 190 (1), 92 (2020). DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.2019.05.038623
  11. Е.А. Вишняков, Д.Л. Воронов, Э.M. Гулликсон, В.В. Кондратенко, И.А. Копылец, М.С. Лугинин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Квант. электрон., 43 (7), 666 (2013)
  12. Д.С. Квашенников, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, F. Delmotte, E. Meltchakov. ЖТФ, 89 (11), 1774 (2019). DOI: 10.21883/JTF.2019.11.48343.129-19
  13. Е.А. Вишняков, Ф.Ф. Каменец, В.В. Кондратенко, М.С. Лугинин, А.В. Панченко, Ю.П. Першин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин. Квант. электрон., 42 (2), 143 (2012)
  14. Т.В. Панченко. Генетические алгоритмы: учебно-методическое пособие (Издат. дом "Астраханский университет", Астрахань, 2007)
  15. М.М. Барышева, С.А. Гарахин, С.Ю. Зуев, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Р.М. Смертин, Н.И. Чхало, E. Meltchakov. ЖТФ, 89 (11), 1763 (2019). DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52770.118-22
  16. С.А. Гарахин, A.Я. Лопатин, А.Н. Нечай, А.А. Перекалов, А.Е. Пестов, Н.Н. Салащенко, Н.Н. Цыбин, Н.И. Чхало. ЖТФ, 93 (7), 1002 (2023). DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55760.60-23
  17. Ю.А. Новикова. Автореф. канд. дисс. (Гос. ун-т аэрокосмического приборостроения, СПб., 2015)
  18. F. Abeles. Ann. Phys., 3 (4), 504 (1948)
  19. М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики (Наука, М., 1970), 720 с
  20. П.Х. Бернинг. Теория и методы расчета оптических свойств тонких. Сб. физика тонких пленок (Мир, М., 1967) [Под общ. ред. Г. Хасса и Р.Э. Тауна; перевод с англ. под ред. В.Б. Сандомирского и А.Г. Ждана]
  21. N. Kaiser, S. Yulin, M. Perske, T. Feigl. Proceedings in SPIE, 7101, 71010Z-1 (2008). DOI: 10.1117/12.796150
  22. S. Bajt, J.B. Alameda, T. Barbee, W.M. Clift. Proceedings in SPIE, Optical Engineering, 41 (8), 1797 (2002). DOI: 10.1117/1.1489426
  23. M. Saedi, C. Sfiligoj, J. Verhoeven, J.W.M. Frenkena. Appl. Surf. Sci., 507, 1 (2020). DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.144951
  24. E. Louis, A.E. Yakshin, P.C. Gorts, S. Oestreich, R. Stuik, M.J.H. Kessels, E.L.G. Maas, F. Bijkerk, M. Haidl, S. Muellender, M. Mertin, D. Schmitz, F. Scholze, G. Ulm. Proc. SPIE, 3997, (2000). DOI: 10.1117/12.390077
  25. S.A. Yulin, I.V. Kozevnikov, S.I. Sagitov, V.A. Chirkov, V.E. Levashov, A.V. Vinogradov. Appl. Opt., 32 (10), 1811 (1993).