Рассматривается вторичная электронная эмиссия (ВЭЭ) из алмазных пленок, выполненных в виде мембран толщиной 2.5-5 mum. ВЭЭ исследуется в двух режимах: в режиме "на отражение", когда вторичные электроны выходят с поверхности мембраны, на которую падают первичные электроны, и в режиме "на прострел", когда вторичные электроны выходят с поверхности, противоположной поверхности, на которую падают первичные электроны. Оценка коэффициента ВЭЭ производится на основе анализа поведения в твердом веществе электронов с энергией 0.1-30 keV. Показано, что в случае "на отражение" коэффициент ВЭЭ может быть более 100 при энергиях порядка 3 keV, а в случае "на прострел" он не превышает 5 даже при энергиях 30 keV. Для улучшения эмиссионных свойств мембран при работе "на прострел" предложен ряд конструкций, в частности пористые мембраны, которые позволяют получить характеристики, близкие к характеристикам при работе "на отражение". Приведены экспериментальные результаты, согласующиеся с расчетными данными, и описана технология получения алмазных мембран, в том числе и пористых.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.