Спектральные и статистические характеристики шума полупроводниковых газовых сенсоров в эквирезистивных условиях
Угрюмов Р.Б.1, Шапошник А.В.1, Воищев В.С.1
1Воронежский государственный аграрный университет им. К.Д. Глинки, Воронеж, Россия
Email: asb@agrochem.vsau.ru
Поступила в редакцию: 4 ноября 2003 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2004 г.
Исследовалась стационарность и гауссовость флуктуаций сопротивления полупроводниковых газовых сенсоров, а также спектральный состав шума в эквирезистивных условиях. Показана зависимость гауссовости и стационарности шума от состава газовой фазы. Обнаружено, что спектральный состав шума сенсора в разных средах имеет качественно различный вид. На основании этого сделан вывод о принципиальной возможности повышения селективности газовых сенсоров путем совместного измерения их резистивных и шумовых характеристик.
- Титов А.В., Гуляев А.М., Мухина О.Б., Варлашов И.Б. // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах. Матер. докл. научно-методического семинара. М.: МНТОРЭС им. А.С. Попова. МЭИ (ТУ), 2002. С. 245--246
- Угрюмов Р.Б., Шапошник А.В., Воищев В.С., Рябцев С.В., Васильев А.А. // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах. Матер. докл. научно-методического семинара. М.: МНТОРЭС им. А.С. Попова. МЭИ (ТУ), 2003. С. 245--246
- Угрюмов Р.Б., Шапошник А.В., Воищев В.С., Яковлев П.В., Кирнов Д.С. // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах. Матер. докл. научно-методического семинара. М.: МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2003
- Якимов А.Б. // Изв. вузов. Радиофизика. 1997. Т. 40. N 9. С. 1155
- Ferrante G., Якимов А.Б. // Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах. Матер. докл. научно-методического семинара. М.: МНТОРЭС им. А.С. Попова, 1999. С. 177--182
- Малышев В.В., Писляков А.В. // Сенсор. 2001. N 1. С. 2--15
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук