Вышедшие номера
Структура и свойства магниторезистивной керамики, толстой и тонкой пленки La0.6Sr0.3Mn1.1-xFexO3±delta
Пащенко В.П., Ревенко Ю.Ф., Пащенко А.В., Прокопенко В.К., Шемяков А.А., Турченко В.А., Носанов Н.И., Волков В.И., Ищук В.М., Чуканова И.Н., Бажин А.И., Пащенко В.В.1
1Донецкий национальный университет, Донецк, Украина
Email: bazhin@dongu.donetsk.ua
Поступила в редакцию: 26 ноября 2004 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2005 г.

Рентгеноструктурным, ядерно-магнитно-резонансным (ЯМР) 55Mn, резистивным и магнитным методами исследованы магниторезистивные керамические, толстопленочные и тонкопленочные образцы La0.6Sr0.3Mn1.1-xFexO3±delta (x=0 и 0.04). Установлено, что ромбоэдрически искаженная (R3c) перовскитовая структура содержит анионные, катионные вакансии и наноструктурные дефекты кластерного типа. Широкие асимметричные спектры ЯМР 55Mn подтвердили высокочастотный электронно-дырочный обмен между Mn3+ и Mn4+ и неэквивалентность их окружения, обусловленную высокой дефектностью и неоднородностью структуры. Легирование железом и повышение температуры отжига приводит к уменьшению температур фазовых переходов металл-полупроводник, ферро-парамагнетик и увеличению магниторезистивного эффекта. Низкополевой магниторезистивный эффект в низкотемпературной области (~100 K) в керамике и толстой пленке объяснен туннелированием на межкристаллитных границах. Анализ влияния железа и температуры отжига на энергию активации подтвердил вывод о сложном характере дефектности перовскитовой структуры и наличии нескольких механизмов активационных процессов.