Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2006, выпуск 9 » Статья стр. 136
<<<>>>
Взаимодействие атомов железа с поверхностью окисленного кремния
Гомоюнова М.В.1, Малыгин Д.Е.1, Пронин И.И.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Marina.Gomoyunova@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 8 февраля 2006 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2006 г.
PDF версия
Методом фотоэлектронной спектроскопии остовных уровней с использованием синхротронного излучения изучено взаимодействие атомов железа с окиленной поверхностью Si(100)2x1 при комнатной температуре в области покрытий от субмонослойных до четырех монослоев. С помощью компьютерного моделирования спектров Si 2p-остовных электронов выявлен эффект проникновения атомов Fe под окисный слой кремния, который наблюдается даже при комнатной температуре. Показано, что этот процесс сопровождается исчезновением интерфейсных фаз кремния, существовавших на границе SiOx/Si, и приводит к появлению более сложной тройной фазы с участием атомов Fe, O и Si, а также к формированию в области межфазовой границы твердого раствора Fe-Si. PACS: 68.35.Fx
  1. Gallego J.M., Miranda R. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. N 3. P. 1377--1383
  2. Alvarez J., Hinarejos J.J., Michel E.G. et al. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 45. N 24. P. 14 042--14 051
  3. Gallego J.M., Garcia J.M., Alvares J. et al. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 46. N 20. P. 13 339--13 344
  4. Konuma K., Vrijmoeth J., Zagwijn P.M. et al. // J. Appl. Phys. 1993. Vol. 73. N 3. P. 1104--1109
  5. Chrost J., Hinarejos J.J., Segovia P. et al. // Surf. Sci. 1997. Vol. 371. P. 297--306
  6. Sasase M., Nakanoya T., Yamamoto H. et al. // Thin Solid Films. 2001. Vol. 401. P. 73--76
  7. Tung T.R. // Appl. Phys. Lett. 1996. Vol. 68. N 24. P. 3461--3463.
  8. Tung T.R. // Jpn. J. Appl. Phys. 1997. Vol. 36. N 3B. P. 1650--1654.
  9. Hayashi Y., Yoshinaga M., Ikeda H. et al. // Surf. Sci. 1999. Vol. 438. P. 116--122
  10. Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Галль Н.Р. и др. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 20. С. 17--23
  11. Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Малыгин Д.Е. и др. // ФТТ 2005. Т. 47. N 10. С. 1901--1906
  12. Гомоюнова М.В., Пронин И.И. // ЖТФ. 2004. Т. 74. Вып. 10. С. 1--34
  13. Ishizaka A., Shiraki Y. // J. Electrochim. Soc. 1986. Т. 133. N 4. С. 666--670
  14. Shirley D.A. // Phys. Rev. B. 1972. Vol. 5. N 12. P. 4709--4714
  15. Morgen P., Jensen T., Gundlach C. et al. // Comp. Mat. Sci. 2001. Vol. 21. P. 481--487
  16. Pi T.-W., Wen J.-F., Ouyang C.-P. et al. // Surf. Sci. 2001. Vol. 438. P. L333--L338
  17. Jolly F., Rochet F., Dufour G. et al. // J. Non-Crystalline Solids. 2001. Vol. 280. P. 150--155
  18. Himpsel F.J., McFeely F.R., Taleb-Ibrahimi A. et al. // Phys. Rev. B. 1988. Vol. 38. N 9. P. 6084--6096
  19. Oh J.H., Yeom H.W., Hagimoto Y. et al. // Phys. Rev. B. 2001. Vol. 63. N 20. P. 205 310 (6)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme