Моделирование контактной жесткости полусферического островкового включения
Батог Г.С.1, Батурин А.С.1, Шешин Е.П.1
1Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия
Email: georgysb@mail.ru
Поступила в редакцию: 18 января 2007 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2007 г.
С помощью численного моделирования получена модель, выражающая связь контактной жесткости, измеряемой с помощью зондов атомно-силовой микроскопии с постоянным контактным радиусом cредствами атомно-силовой акустической микроскопии, с радиусом одиночного полусферического островкового включения и индентационными модулями материалов включения и матрицы. Анализ проводился методом конечных элементов с использованием изотропной модели материалов. Возможная область применения - исследование нанокомпозитных материалов. PACS: 82.37.Gk
- Rabe U., Amelio S., Kester E. et al. // Ultrasonics. 2000. Vol. 38. P. 430--437
- Hurley E.C., Shen K., Jennett N.M. et al. // J. Appl. Phys. 2003. Vol. 94. P. 2347--2354
- Батог Г.С., Батурин А.С. и др. // ЖТФ. 2006. Т. 76. Вып. 8. С. 124--129
- Федоренко Р.П. Введение в вычислительную физику. М.: Изд-во МФТИ, 1994. 528 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
