Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2008, выпуск 2 » Статья стр. 71
<<<>>>
Влияние поверхности на фазовую модуляцию света в слое нематического жидкого кристалла
Коншина Е.А.1, Федоров М.А.1, Амосова Л.П.1, Воронин Ю.М.1
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: eakonshina@mail.ru
Поступила в редакцию: 10 января 2007 г.
Выставление онлайн: 20 января 2008 г.
PDF версия
Представлены экспериментальные результаты исследования нанорельефа ориентирующих поверхностей, определения начального угла наклона директора, фазовой задержки света в слое нематического жидкого кристалла и динамики процесса переориентации директора при SB-деформации в электрическом поле. Показано, что при осаждении на поверхность слоя моноокиси GeO с заданной анизотропией нанорельефа, полученного наклонным осаждением материала, тонкого слоя аморфного гидрогенизированного углерода (a-C : H) происходит сглаживане нанорельефа без изменения топологии поверхности. Модификация структуры и физико-химических свойств поверхности GeO приводит к изменению условий анизотропно-упругого взаимодействия на границе раздела с жидким кристаллом, о чем свидетельствует повышение порога S-эффекта и уменьшение начального угла наклона директора от 22o (на поверхности GeO) до 0-6o. Экспериментально продемонстрировано существенное влияние наноструктуры поверхности на динамику переориентации директора в электрическом поле и на фазовую модуляцию света. В результате осаждения слоя a-C : H на поверхность GeO наблюдалось увеличение фазовой задержки света в слое жидкого кристалла одинаковой толщины в два раза по сравнению с немодифицированной поверхностью. PACS: 77.84.Nh; 78.20.Fm; 78.20.Jg
  1. Yeung F.S., Kwoka H.-S. // Appl. Phys. Lett. 2006. Vol. 88. P. 063 505--3
  2. Yeung F.S., Ho J.Y., Li Y.W. et al. // Appl. Phys. Lett. 2006. Vol. 88. P. 051 910--3
  3. Chae B., Kim S.B., Lee S.W. et al. // Macromolecules. 2002. Vol. 35. P. 10 119--10 130
  4. Doyle J.P., Chaudhari P., Galligan E.A. et al. // Nucl. Instr. and Meth. B. 2003. Vol. 206. P. 467--471
  5. Jo Y.-M., Hwang J.-Y., Seo D.-S. et al. // Mol. Cryst. \& Liq. Cryst. 2004. Vol. 410. P. 319--327
  6. Hwang J.-Y., Jo Y-M., Seo D.-S., Jang J. // Jpn. J. of Appl. Phys. Part 2: Lett. 2003. Vol. 42. N 2A. P. L114--L116
  7. Rho S.J., Lee D.-K., Baik H.K. at al // Thin Solid Films. 2002. Vol. 420--421. P. 259--262
  8. Коншина Е.А., Толмачев В.А., Вангонен А.И., Фаткулина Л.А. // Оптич. журн. 1997. Т. 64. N 5. С. 88--95
  9. Коншина Е.А., Федоров М.А. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. Вып. 22. С. 15--21
  10. Коншина Е.А. // ЖФТ. 2002. Т. 72. Вып. 6. С. 35--40
  11. Hwang S.J., Lin S.-T., Lai C.-H. // Opt. Comm. 2006. Vol. 260. P. 614--620
  12. Коншина Е.А., Федоров М.А., Амосова Л.П. // Оптич. журн. 2006. Т. 73. N 12. С. 9--13
  13. Чигринов В.Г. // Кристаллография. 1982. Т. 27. Вып. 2. С. 404--430
  14. Коншина Е.А. // ЖТФ. 2000. Т. 70. Вып. 3. С. 87--89.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme