Вышедшие номера
О возможности детектирования приповерхностных технологических напряжений в керамике методом фотоакустической микроскопии
Глазов А.Л.1, Муратиков К.Л.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: klm.holo@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 4 июня 2008 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2009 г.

Экспериментально исследовано влияние приповерхностных технологических напряжений на фотоакустические изображения мест индентации по Виккерсу в керамике нитрида кремния. Продемонстрировано влияние напряжений, вводимых в керамику в процессе шлифовки и полировки ее поверхностей, на поведение фотоакустических сигналов вблизи концов приповерхностных трещин. Показано, что данные фотоакустической микроскопии, полученные вблизи концов трещин в керамике, индентированных по Виккерсу, позволяют оценить величину присутствующих в них технологических напряжений. PACS: 81.65.Ps, 81.70.Cv, 81.05.Mh