Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2009, выпуск 3 » Статья стр. 105
<<<>>>
О возможности детектирования приповерхностных технологических напряжений в керамике методом фотоакустической микроскопии
Глазов А.Л.1, Муратиков К.Л.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: klm.holo@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 4 июня 2008 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2009 г.
PDF версия
Экспериментально исследовано влияние приповерхностных технологических напряжений на фотоакустические изображения мест индентации по Виккерсу в керамике нитрида кремния. Продемонстрировано влияние напряжений, вводимых в керамику в процессе шлифовки и полировки ее поверхностей, на поведение фотоакустических сигналов вблизи концов приповерхностных трещин. Показано, что данные фотоакустической микроскопии, полученные вблизи концов трещин в керамике, индентированных по Виккерсу, позволяют оценить величину присутствующих в них технологических напряжений. PACS: 81.65.Ps, 81.70.Cv, 81.05.Mh
  1. Биргер И.А. Остаточные напряжения. М.: Машиностроение, 1963. 252 с
  2. Чернышев Г.Н., Попов А.Л., Козинцев В.М., Пономарев И.И. Остаточные напряжения в деформируемых твердых телах. М.: Наука, 1996. 240 с
  3. Технологические остаточные напряжения / Под ред. А.В. Поздея. М.: Машиностроение, 1973. 216 с
  4. Yamashita O., Ikeda T. // J. Appl. Phys. 2004. Vol. 95. N 4. P. 1743--1748
  5. Moorthy V., Shaw B.A., Mountford P., Hopkins P // Acta Mater. 2005. Vol. 53. P. 4997--5006
  6. Carlsson S., Larsson P.L. // Acta Materialia. 2001. Vol. 49. P. 2179--2191
  7. Suterio R., Albertazzi A., Amaral F.K. // J. Strain Analysis. 2006. Vol. 41. N 7. P. 517--524
  8. Tam A.C. // Rev. Mod. Phys. 1986. Vol. 58. N 2. P. 381--431
  9. Шпейзман В.В., Песчанская Н.Н. // ФТТ. 2007. Т. 49. Вып. 7. С. 1201--1205
  10. Burbelo R.M., Gulyaev A.L., Robur L.I., Zhabitenko M.K., Atamanenko B.A., Kryl Ya.A. // J. de Phys. 4. 1994. Vol. C7. P. 311--314
  11. Муратиков К.Л., Глазов А.Л., Роуз Д.Н., Думар Д.Е., Квай Г.Х. // Письма в ЖТФ. 1997. Т. 23. Вып. 5. С. 44--52
  12. Maratikov K.L., Glazov A.L., Rose D.N., Dumar J.E. // J. Appl. Phys. 2000. Vol. 88. N 5. P. 2948--2955
  13. Kirchner H.P., Isaacson E.D. // J. Am. Ceram. Soc. 1982. Vol. 65. N 1. P. 55--60
  14. Johnson-Walls D., Evans A.G., Marshall S.B., James M.R. // J. Am. Ceram. Soc. 1986. Vol. 69. N 1. P. 44--47
  15. Den Toonder J.M.J., Rademaker C.W., Hu C.L. // Transact. ASME. 2003. Vol. 125. P. 506--511
  16. Муратиков К.Л., Глазов А.Л., Роуз Д.Н., Думар Д.Е. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28. Вып. 9. С. 48--57
  17. Муратиков К.Л., Глазов А.Л., Роуз Д.Н., Думар Д.Е. // ЖТФ. 2003. Т. 73. Вып. 8. С. 90--97
  18. Smith S.M., Scattergood R.O. // J. Am. Soc. Ceram. 1992. Vol. 75. N 2. P. 305--315

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme