Рассмотрен источник ионов с электронной ионизацией, формирующий на своем выходе поток заряженных частиц с поперечным сечением ~0.1x 0.1 mm, разбросами по углам в пределах 2^ox 2^o и относительными разбросами по энергии <0.5% в диапазоне энергий 0.5-3 keV. Источник предназначен для систем, в которых фокусировка пучка ионов проводится по двум взаимно перпендикулярным направлениям. Предложенная конструкция позволяет проводить ионизацию пробы локально в объеме (~10 mm³), где концентрация исследуемых частиц превышает среднее значение по объему вакуумной камеры масс-спектрометра на 2-3 порядка. Проведено численное моделирование ионно-оптических свойств источника, выбраны оптимальные параметры. Приведены примеры применения источника при масс-спектрометрическом определении солей металлов в водных пробах, а также газов и летучих соединений из проб, находящихся в различных фазовых состояниях. PACS: 41.75.i, 41.75.Ak, 41.75.Cn, 41.85.p, 41.85Ar, 41.85.Ct

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.