Выполнен расчет спектра флуктуаций тока, текущего поперек слоев легированной сверхрешетки, у которой толщины n- и p-слоев превышают длину свободного пробега электронов и дырок. Рассмотрены три возможных источника шума: излучательные, ударные и шокли-ридовские генерационно-рекомбинационные процессы. Получена формула для частотной характеристики вертикального фоторезистора на основе легированной сверхрешетки.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.