"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование тепловых процессов в мощных InGaN/GaN флип-чип светодиодах с использованием инфракрасной тепловизионной микроскопии
Закгейм А.Л.1, Курышев Г.Л.2, Мизеров М.Н.1, Половинкин В.Г.2, Рожанский И.В.3, Черняков А.Е.1
1Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 30 июля 2009 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2010 г.

Представлены результаты экспериментального исследования температурных полей, возникающих в мощных AlGaInN-гетеросветодиодах в результате саморазогрева при больших рабочих токах. Использованный метод инфракрасной тепловизионной микроскопии позволил провести непосредственное измерение распределения температуры по площади p-n-перехода с высоким пространственным разрешением ~3 мкм при абсолютной погрешности измерений ~2 K. Показано, что в мощных светодиодах при высоких уровнях возбуждения могут возникать значительные температурные градиенты, обусловленные неоднородностью в распределении плотности тока по площади активной области. Этот эффект необходимо учитывать как при конструировании излучающих кристаллов, так и при оценке допустимых режимов эксплуатации. Метод инфракрасной тепловизионной микроскопии позволяет также выявлять микродефекты, вызывающие каналы токовой утечки и снижающие надежность работы приборов.
  • M.G. Craford. Proc. 1st Int. Conf. on White LEDs and Solid State Lighting: White LEDs-07 (Tokyo, Japan, Nov. 26--30, 2007) p. 5
  • Phlatlight PT120 Projection Chipset. Website: http://www.luminus.com/content1092
  • O.B. Shchekin, J.E. Epler, T.A. Trottier, T. Margalith, D.A. Steigerwald, M.O. Holcomb, P.S. Martin, M.R. Kramers. Appl. Phys. Lett., 89 (7), 1109 (2006)
  • X. Guo, E.F. Shubert. Appl. Phys. Lett., 78 (21), 3337 (2001)
  • M. Shatalov, G. Simin, V. Avidarahan, A. Chitnis, S. Wu, R. Pachipulusu, V. Mandavilli, K. Simin, J. Zhang, J. Yang, A. Khan. Jpn. J. Appl. Phys., 41 (8), 5083 (2002)
  • Y. Xi, E.F. Schubert. Appl. Phys. Lett., 85 (12), 2163 (2004)
  • Y. Xi, J.-Q. Xi, Th. Gessmann, J.M. Shah, J.K. Kim, E.F. Schubert, A.J. Fischer, M.H. Crawford, K.H.A. Bogart, A.A. Allerman. Appl. Phys. Lett., 86 (3), 1907 (2005)
  • А.Л. Закгейм, Д.А. Закгейм, И.П. Смирнова, И.В. Рожанский, С.А. Гуревич, Е.Д. Васильева, Г.В. Иткинсон. Тез. докл. 4-й Всерос. конф. "Нитриды галлия, индия, алюминия --- структуры и приборы" (СПб, Россия, 2005) с. 128
  • G.A. Onushkin, A.L. Zakgeim, D.A. Zakgeim, I.V. Rozhansky, A.F. Tsatsulnikov, W.V. Lundin, D.S. Sizov. Phys. Status Solidi C, 3 (6), 2149 (2006)
  • V.K. Malyutenko, O.Yu. Malyutenko, A.V. Zinovchuk, A.L. Zakgeim, D.A. Zakgeim, I.P. Smirnova, S.A. Gurevich. Proc. SPIE, 5941, 59411K-1 (2005)
  • D.A. Zakgeim, I.P. Smirnova, E.M. Arakcheeva, M.M. Kulagina, V.W. Lundin, A.F. Tsatsulnikov, A.V. Sakharov, A.V. Fomin, A.L. Zakgeim, E.D. Vasil'eva, G.V. Itkinson. Phys. Status Solidi C, 1 (10), 2401 (2004).
  • Д.А. Закгейм, И.П. Смирнова, И.В. Рожанский, С.А. Гуревич, М.М. Кулагина, Е.М. Аракчеева, Г.А. Онушкин, А.Л. Закгейм, Е.Д. Васильева, Г.В. Иткинсон. ФТП, 39 (7), 885 (2005)
  • В.М. Базовкин, А.А. Гузев, А.П. Ковчавцев, Г.Л. Курышев, А.С. Ларшин, В.Г. Половинкин. Прикл. физика, 2, 97 (2005)
  • T.A. Davis. UMFPACK User Guide, Website: http://www.cise.ufl.edu/research/sparse/umfpack/(1994--2009)
  • А.А. Ефимов, Н.И. Бочкарева, Р.И. Горбунов, Д.А. Лавринович, Ю.Т. Ребане, Д.В. Тархин, Ю.Г. Шретер. ФТП, 40 (5), 656 (2006)
  • И.В. Рожанский, Д.А. Закгейм. ФТП, 40 (7), 861 (2006)
  • Y.C. Shen, G.O. Mueller, S. Watanabe, N.F. Gardner, A. Munkholm, M.R. Krames. Appl. Phys. Lett., 91 (14), 1101 (2007)
  • J. Xu, M.F. Schubert, A.N. Noemaun, D. Zhu, J.K. Kim, E.F. Schubert, M.H. Kim, H.J. Chung, S. Yoon, C. Sone, Y. Park. Appl. Phys. Lett., 94 (1), 113 (2009)
  • S.S. Chhajed, Y. Xi, Y.-L. Li, Th. Gessman, E.F. Shubert. J. Appl. Phys., 97 (05), 4506 (2005)
  • Luxeon Reliability. Application Brief AB25. Website: http://www.philipslumileds.com/pdfs/RD25.pdf.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.