Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 1997, выпуск 6 » Статья стр. 72
<<<>>>
Формирование локализованных серебряных центров на поверхности пленок диоксида титана при помощи сканирующего туннельного микроскопа
Порошков В.П.1, Гурин В.С.1
1Научно-исследовательский институт физико-химических проблем Белорусского государственного университета, Минск, Белоруссия
Поступила в редакцию: 20 июля 1995 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1997 г.
PDF версия
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) используется для формирования изменений рельефа поверхности пленок диоксида татана, содержащих адсорбированные ионы серебра. В результате воздействия коротких импульсов амплитудой <=15 В, подаваемых на зонд СТМ, находящийся в режиме туннельного тока, на поверхности пленки образуются структуры размером ~10 нм, состоящие предположительно из частиц серебра.
  1. Quate C.F. // Scanning Tunneling Microscopy and Releted Methods. Dordrecht: Kluwer Acad. Publ., 1990. P. 281--297
  2. Shedd G.M., Russell Ph. // Nanotechnology. 1990. Vol. 1. P. 67--80
  3. Wiesendanger R. // Appl. Surf. Sci. 1992. Vol. 54. P. 271--277
  4. Владимиров Г.Г., Грязев А.Л. // Вестник СПбГУ. 1993. Сер. 4. N 4. С. 24--40
  5. Rohrer H. // Microelectronic Engineering. 1995. Vol. 27. N 1. P. 3--15
  6. Гурин В.С. // Журн. науч. и прикл. фотографии. 1993. Т. 38. N 3. С. 67--78
  7. Гурин В.С., Тявловская Е.А., Шарендо А.И., Кулинкович О.Г. // ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 2. С. 165--173
  8. Linsebigler A.L., Lu G., Yates J.T. ju. // Chem. Rev. 1995. Vol. 95. N 3. P. 735--758
  9. Кулак А.И. Электрохимия полупроводниковых гетероструктур. Минск.: Из-во ун-та, 1986. 192 с
  10. Нечепуренко Ю.В., Рагойша Г.А., Соколов В.Г., Браницкий Г.А. // Журн. науч. и прикл. фотографии и кинематографии. 1983. Т. 28. N 3. С. 181--184
  11. Порошков В.П., Гурин В.С., Кунцевич Н.И. // Электрохимия. 1993. Т. 29.N 10. С. 1275--1277
  12. Порошков В.П., Гурин В.С., Кунцевич Н.И., Свиридов В.В. // Весцi АН Беларусi. Сер. хiм. навук. 1993. N 1. С. 21--26
  13. Гурин В.С., Порошков В.П., Каспаров К.Н., Тявловская Е.А., Кунцевич Н.И. // Журн. физ. химии. 1993. Т. 67. N 12. С. 2442--2446
  14. Heinemann K., Poppa H. // Thin Solid Films. 1976. Vol. 33. P. 237--251
  15. Rhead G.E. // Intern. Mater. Rev. 1989. Vol. 34. N 6. P. 261--267
  16. Thundat T., Nagahara L.A., Lindsay S.M. // J. Vacuum Sci. and Technol. A. 1990. Vol. 8. N 1. P. 539--543
  17. Richter R., Harthagel H.L. // Intern. J. Electron. 1990. Vol. 69. N 5. P. 631--634
  18. Li W., Virtanen J.A., Penner R.M. // Appl. Phys. Lett. 1992. Vol. 60. N 10. P. 1181--1183

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme