Вышедшие номера
О моделировании поверхностей постоянной силы над решеткой плотной упаковки атомов в режиме сил отталкивания
Благов Е.В.1, Климчицкая Г.Л.1, Лобашев А.А.1, Мостепаненко В.М.1
1Северо-Западный заочный политехнический институт, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 27 декабря 1995 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1997 г.

Рассчитаны поверхности постоянной силы при сканировании острия АСМ в режиме сил отталкивания над решеткой плотной упаковки атомов. Показано, что при достаточно малых начальных высотах сканирования острия с одним атомом на кончике имеют место разрывы поверхностей постоянной силы в областях между атомами поверхностной решетки. Построена кластерная модель кончика острия, обеспечивающая непрерывность сканирования при произвольных начальных высотах. Исследована зависимость АСМ изображений решетки плотной упаковки атомов, как невозмущенной, так и содержащей точечные дефекты, от ориентации кластера на кончике острия относительно кристаллографических осей поверхности. Обсуждены диагностические возможности полученных результатов.