Влияние толщины слоев TiOx/TiO2 на их мемристорные свойства
Емельянов А.В., Демин В.А., Антропов И.М., Целиков Г.И., Лаврухина З.В., Кашкаров П.К.
Поступила в редакцию: 14 февраля 2014 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2014 г.
Исследовано влияние толщины слоев гетероструктуры TiOx/TiO2 на ее мемристорные свойства. Методом oже-спектроскопии определена зависимость показателя стехиометрии изготовленных слоев от их толщины. Зависимость отношения сопротивлений в высоко- и низкоомном состояниях Roff/Ron мемристорного элемента от толщины его слоев имеет немонотонный характер. Наибольшее значение Roff/Ron=200 получено при одинаковой толщине слоев TiOx и TiO2, равной 30 nm.
- Borghetti J., Snider G.S., Kuekes P.J., Yang J.J., Stewart D.R., Williams R.S. // Nature. 2010. Vol. 464. P. 873-876
- Song J., Zhang Y., Xu C., Wu W., Wang Z.L. // Nano Letters. 2011. Vol. 11. P. 2829-2834
- Li C., Jiang H., Xia Q. // Applied Physics Letters. 2013. Vol. 103. P. 062104-062104-5
- Горшков O.H., Антонов И.Н., Белов А.И., Касаткин А.П., Михайлов А.Н. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. Вып. 3. С. 12-19
- Агеев O.A., Блинов Ю.Ф., Ильин О.И., Коломийцев А.С., Коноплев Б.Г., Рубашкина М.В., Смирнов В.А., Федотов А.А. // ЖТФ. 2013. Т. 83. С. 128-133
- Strukov D.B., Snider G.S., Stewart D.R., Williams R.S. // Nature. 2008. Vol. 453. P. 80-83
- Yang J.J., Borghetti J., Murphy D., Stewart D.R., Williams R.S. // Advanced Materials. 2009. Vol. 21. P. 3754-3758
- Dong R., Lee D.S., Pyun M.B., Hasan M., Choi H.J., Jo M.S., Seong D.J., Chang M., Heo S.H., Lee J.M., Park H.K., Hwang H. // Applied Physics A. 2008. Vol. 93. P. 409-414
- Храповицкая Ю.В., Маслова Н.Е., Грищенко Ю.В., Демин В.А., Занавескин М.В. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. Вып. 7. С. 87-94
- Briggs D., Seah M.P. Practical surface analysis by Auger and x-ray photoelectron spectroscopy, Pub.: Wiley, 1983, 553 p
- Jameson J.R., Fukuzumi Y., Wang Z., Griffin P., Tsunoda K., Meijer G.I., Nishi Y. // Applied Physics Letters. 2007. Vol. 91. P. 112101-1-112101-3
- Pan X., Yang M., Fu X., Zhang N., Xu Y. // Nanoscale. 2013. Vol. 5. P. 3601
- Honda K., Sakai A., Sakashita M., Ikeda H., Zaima S., Yasuda Y. // Jpn. J. Appl. Phys. 2004. Vol. 43. P. 1571-1576
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
