Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Теория и расчет электростатических электронных зеркал с учетом релятивистских эффектов
The Science Committee of the Ministry of Education and Science of the Republic of Kazakhstan, Grant finansing of scientific research , No. AP05132483
1Алматинский университет энергетики и связи им. Г. Даукеева, Алматы, Казахстан 
Email: bimurzaev@mail.ru, evgeniy.yakushev@inbox.ru
Поступила в редакцию: 12 октября 2020 г.
В окончательной редакции: 30 ноября 2020 г.
Принята к печати: 1 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 8 января 2021 г.
С помощью метода центральной частицы получены уравнения траектории заряженных частиц с точностью до величин третьего порядка малости включительно в осесимметричном электростатическом зеркале с учетом релятивистских эффектов. Определены условия пространственной фокусировки и коэффициенты пространственных аберраций в гауссовой плоскости изображения зеркала при учете релятивистских эффектов. Путем численных расчетов определены условия одновременного устранения сферической и осевой хроматической аберраций при учете релятивистских эффектов в осесимметричном электростатическом зеркале, когда предметная плоскость зеркала совмещена с его фокальной плоскостью. Показано, что учет высоких скоростей частиц приводит как к смещению положения гауссовой плоскости изображения, так и изменению качества фокусировки. Ключевые слова: электронный микроскоп, электростатическое зеркало, сферическая аберрация, осевая хроматическая аберрация, релятивистский эффект.
- П. Хокс, Э. Каспер. Основы электронной оптики (Мир, М., 1993)
- P.W. Hawkes. Phil. Trans. R. Soc. A, 367, 3637 (2009)
- M. Haider, H. Rose, S. Uhlemann, E. Schwan, B. Kabius, K. Urban. Ultramicroscopy, 75, 53 (1998). DOI:10.1016/S0304-3991(98)00048-54
- M. Haider, H. Muller, S. Uhlemann. Adv. Imaging Electron Phys., 153, 43 (2008)
- G.F. Rempfer, J. Appl. Phys., 67 (10), 6027 (1990)
- D. Preikszas, H. Rose. J. Electron Microsc., 46 (1), 1 (1997)
- P. Hartel, D. Preikszas, R. Spehr, H. Muller, H. Rose. Adv. Imaging Electron Phys., 120, 41 (2002)
- O. Krivanek, N. Dellby, R.J. Keyse, M. Murfitt, C. Own, Z. Szilagyi. Adv. Imaging Electron Phys., 153, 121 (2008)
- S.B. Bimurzaev, N.U. Aldiyarov, E.M. Yakushev. Microscopy, 66, 356 (2017)
- E.M. Yakushev, L.M. Sekunova. Adv. Electronics Electron Phys., 68 (5), 337 (1986)
- E.M. Yakushev Adv. Imaging Electron Phys., 178, 147 (2013)
- В. Глазер. Основы электронной оптики (ГИТТЛ, М., 1957)
- Г. Корн, Т. Корн. Справочник по математике для научных работников и инженеров (Наука, М., 1968)
- S.B. Bimurzaev, G.S. Serikbaeva, Е.М. Yakushev. J. Electron Microscopy, 52 (4), 365 (2003)
- Б.В. Бобыкин, Ю.А. Невинный, Е.М. Якушев. ЖТФ, 45, 2368 (1975)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
