Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Нанодоменная инженерия в тонких пленках LNOI на неполярной поверхности
Боднарчук Я.В.1, Гайнутдинов Р.В.1, Волк Т.Р.1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова, КККиФ, Москва, Россия 
Email: deuten@mail.ru, rgaynutdinov@gmail.com, volk-1234@yandex.ru
Поступила в редакцию: 5 сентября 2024 г.
В окончательной редакции: 15 октября 2024 г.
Принята к печати: 17 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 6 января 2025 г.
Представлены результаты записи микро- и нанодоменных структур заданной конфигурации в тонкой пленке LNOI (LiNbO3-on-insulator) неполярной (Х-) ориентации полем зонда атомно-силового микроскопа и обсуждены их свойства. Исследование доменных структур проведено методом микроскопии пьезоотклика. Получены зависимости длины доменов от длительности импульса и напряжения, которые хорошо подчиняются экспоненциальной и линейной функциям соответственно. Измерены пьезоэлектрические петли гистерезиса и произведена оценка коэрцитивных и смещающих напряжений. Анализ петель гистерезиса показал, что величины коэрцитивных и смещающих напряжений практически не зависят от времени импульса подаваемого на зонд напряжения. Ключевые слова: доменные структуры, тонкая пленка, атомно-силовая микроскопия, ниобат лития.
- Л.С. Коханчик, М.В. Бородин, С.М. Шандаров, Н.И. Буримов, В.В. Щербина, Т.Р. Волк. ФТТ, 52 (8), 1602 (2010). [L.S. Kokhanchik, M.V. Borodin, S.M. Shandarov, N.I. Burimov, V.V. Shcherbina, T.R. Volk. Physics Solid State, 52 (8), 1722 (2010). DOI: 10.1134/S106378341008024X]
- L.S. Kokhanchik, M.V. Borodin, N.I. Burimov, S.M. Shandarov, V.V. Shcherbina, T.R. Volk. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Waveguide Applications 59, 1076 (2012). DOI: 10.1109/TUFFC.2012.2298
- T.R. Volk, L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, Y.V. Bodnarchuk, S.M. Shandarov, M.V. Borodin. J. Lightwave Tech., 33 (23), 4761 (2015). DOI: 10.1109/JLT.2015.2480496
- D. Lavrov, L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, A.S. Elshin, Ya.V. Bodnarchuk, E.D. Mishina, T.R. Volk. Opt. Mater., 75, 325 (2018). DOI: 10.1016/j.optmat.2017.10.046
- S.M. Shandarov, L.S. Kokhanchik, T.R. Volk, E.N. Savchenkov, M.V. Borodin. Quant. Electron., 48, 761 (2018). DOI: 10.1070/QEL16710
- R.V. Gainutdinov, T.R. Volk, H. Zhang. Appl. Phys. Lett., 107, 162903 (2015). DOI: 10.1063/1.4934186
- T.R. Volk, R.V. Gainutdinov, H. Zhang. Appl. Phys. Lett., 110, 132905 (2017). DOI: 10.1063/1.4978857
- T.R. Volk, R.V. Gainutdinov, H. Zhang. Crystals, 7, 137 (2017). DOI: 10.3390/cryst7050137
- R. Gainutdinov, T. Volk. Crystals, 10, 1160 (2020). DOI: 10.3390/cryst10121160
- T.R. Volk, L.S. Kokhanchik, R.V. Gainutdinov, Y.V. Bodnarchuk, S.D. Lavrov. J. Аdv. Dielectrics, 8 (2), 1830001 (2018). DOI: 10.1142/S2010135X18300013
- А.В. Анкудинов, А.Н. Титков. ФТТ, 47, 1110 (2005)
- A. Kholkin, S. Kalinin, A. Roelofs, A. Gruverman. Review of Ferroelectric domain imaging by piezoresponse force microscopy (Scanning Probe Microscopy. S. Kalinin, A. Gruverman. Ed.: Springer, NY., 2007), р. 173-214
- B.N. Slautin, A.P. Turygin, E.D. Greshnyakov, A.R. Akhmatkhanov, H. Zhu, V.Ya. Shur. Appl. Phys. Lett., 116, 152904 (2020). DOI: 10.1063/5.0005969
- A. Prencipe, K. Gallo. IEEE J. Quant. Electron., 59 (3), 0600108 (2023). DOI: 10.1109/JQE.2023.3234986
- D. Sun, Y. Zhang, D. Wang, W. Song, X. Liu, J. Pang, D. Geng, Y. Sang, H. Liu. Light: Sci. Applicat., 9, 197 (2020). DOI: 10.1038/s41377-020-00434-0
- J. Ma, N. Zheng, P. Chen, X. Xu, Y. Zhu, Yu. Nie, Sh. Zhu, M. Xiao, Y. Zhang. Opt. Express, 32 (8), 14801 (2024). DOI: 10.1364/OE.518885
- J. Seidel, L.W. Martin, Q. He, Q. Zhan, Y.-H. Chu, A. Rother, M.E. Hawkridge, P. Maksymovych, P. Yu, M. Gajek, N. Balke, S.V. Kalinin, S. Gemming, F. Wang, G. Catalan, J.F. Scott, N.A. Spaldin, J. Orenstein, R. Ramesh. Nat. Mater., 8, 229 (2009). DOI: 10.1038/nmat2373
- G. Catalan, J. Seidel, R. Ramesh, J.F. Scott. Rev. Mod. Phys., 84, 119 (2012). DOI: 10.1103/RevModPhys.84.119
- P.S. Bednyakov, B.I. Sturman, T. Sluka, A.K. Tagantsev, P.V. Yudin. Comp. Mater., 4, 65 (2018). DOI: 10.1038/s41524-018-0121-8
- M. Rusing, P.O. Weigel, J. Zhao, S. Mookhrjea. IEEE Nanotechnol. Magazine, 13, 18 (2019). DOI: 10.1109/MNANO.2019.2916115
- V. Gopalan, Q. Jia, T.E. Mitchell. Appl. Phys. Lett., 75 (16), (1999). DOI: 10.1063/1.125055
- Ya.V. Bodnarchuk, R.V. Gainutdinov, T.R. Volk, F. Chen. J. Lightwave Technol., 40, 5231 (2022). DOI: 10.1109/JLT.2022.3175021
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
