Представлены результаты измерений параметров коммерчески доступных пассивных электронных компонентов поверхностного монтажа: конденсаторов и индуктивностей в типоразмерах 0402 и 0201 при температурах 300, 77 и 4 K. Проведены измерения частотных зависимостей номинальных значений и параметров матрицы рассеяния. Значения электрической емкости конденсаторов поверхностного монтажа типа NPO, изготовленных по тонкопленочной технологии, при температурах 77 и 4 K показали отклонения менее 4 % от значения, измеренного при 300 K. Матрицы рассеяния данных типов конденсаторов при 77 и 4 K не имели существенных отклонений от значений, предоставленных производителем. Показано отклонение значения емкости конденсатора 120 pF поверхностного монтажа типа X7R более 30 %. Результаты измерений индуктивностей поверхностного монтажа, изготовленных по тонкопленочной технологии, при температурах 77 и 4 K показали изменение индуктивности на величину порядка 10 % при 77 K. Использованный авторами метод компенсации влияния измерительного тракта на величину индуктивности и параметры матрицы рассеяния при охлаждении до 4 K не позволил достоверно определить параметры индуктивностей при данной температуре, что требует проведения дальнейших исследований с использованием методов прецизионной калибровки. Ключевые слова: конденсаторы, индуктивности, пассивные электронные компоненты, криогенная электроника, матрица рассеяния конденсатора, матрица рассеяния индуктивности.