Компактный спектрограф на основе VLS-решетки для диапазона 3-20 nm
Морозов С.С.1, Знаменский М.Ю., Гарахин С.А.1, Зорина М.В.1, Реунов Д.Г.1, Уласевич Б.А.1, Чхало Н.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия

Поступила в редакцию: 28 мая 2025 г.
В окончательной редакции: 28 мая 2025 г.
Принята к печати: 28 мая 2025 г.
Выставление онлайн: 11 сентября 2025 г.
Разработан компактный спектрограф для мягкого рентгеновского диапазона на основе дифракционной решетки с переменной частотой штрихов (Variable Line Spacing или VLS), работающей в первом внутреннем порядке дифракции. Конструкция включает ряд инновационных решений, позволяющих добиться уменьшения габаритов спектрографа для большей мобильности, а также увеличения светосилы. Основные оптические элементы собраны на едином основании, что исключает рассогласование оптической схемы внутри спектрографа. В качестве детектора использована коммерческая КМОП-матрица GSENSE2020BSI 13.3x13.3 mm с размером пикселя 6.5 μm и высокой квантовой эффективностью регистрации в мягком рентгеновском диапазоне. В оптической схеме спектрографа присутствует фокусирующее зеркало с двухслойным отражающим покрытием Cr/C, что позволяет увеличить светосилу спектрографа. Проведены измерения дифракционной эффективности решетки в первом внутреннем порядке, которые совместно с расчетной зависимостью разрешающей способности от длины волны говорят о достаточно высокой четкости спектрального изображения источника. Приведены рентгенооптическая схема спектрографа, расчетные рентгенооптические характеристики, 3D-изображение и фото спектрографа. Ключевые слова: спектрограф, VLS-решетка, Cr/C-двухслойные зеркала, мягкое рентгеновское излучение, экстремальное ультрафиолетовое излучение.
- H. Fiedorowicz, A. Bartnik, M. Szczurek, H. Daido, N. Sakaya, V. Kmetik, Y. Kato, M. Suzuki, M. Matsumura, J. Tajima, T. Nakayama, Th. Wilhein. Opt. Commun., 163 (1-3), 103 (1999). DOI: 10.1016/S0030-4018(99)00100-5
- F. Gilleron, M. Poirier, T. Blenski, M. Schmidt, T. Ceccotti. J. Appl. Phys., 94 (3), 2086 (2003). DOI: 10.1063/1.1587264
- A. Bartnik, P. Wachulak, T. Fok, . Wegrzynski, H. Fiedorowicz, T. Pisarczyk, W. Skrzeczanowski, T. Chodukowski, Z. Kalinowska, R. Dudzak, J. Dostal, E. Krousky, J. Skala, J. Ullschmied, J. Hrebicek, T. Medrik. Plasma Phys. Control. Fusion, 58, 014009 (2016)
- A. Bartnik, H. Fiedorowicz, R. Jarocki, J. Kostecki, M. Szczurek, P.W. Wachulak. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 647 (1), 125 (2011). DOI: 10.1016/j.nima.2011.05.033
- N.I. Chkhalo, S.A. Garakhin, A.Ya. Lopatin, A.N. Nechay, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, N.N. Tsybin, S.Yu. Zuev. AIP Advances, 8 (10), 105003 (2018). DOI: 10.1063/1.5048288
- A.I. Chumakov, A. Barla, R. Ruffer, J. Metge, H.F. Grunsteudel, H. Grunsteudel, J. Plessel, H. Winkelmann, M.M. Abd-Elmeguid. Phys. Rev. B, 58 (1), 254 (1998)
- T. Fujimoto, S.A. Kazantsev. Plasma Рhys. Controlled Fusion, 39 (9), 1267 (1997)
- S. Alexiou, A. Calisti, P. Gauthier, L. Klein, E. Dalimier, R.W. Lee, R. Stamm, B. Talin. J. Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer, 58 (4-6), 399 (1997)
- V.A. Boiko, A.Ya. Faenov, S.A. Pikuz. J. Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer, 19 (1), 11 (1978)
- M. Boots, D. Muir, A. Moewes. J. Synchrotron Radiation, 20 (2), 272 (2013)
- D.L. Voronov, R. Cambie, R.M. Feshchenko, E.M. Gullikson, H.A. Padmore, A.V. Vinogradov, V.V. Yashchuk. Proc. SPIE 6705, Advances in X-Ray/EUV Optics and Components II, 67050E (20 September 2007). DOI: 10.1117/12.732658
- I. Sakelliou, J.R. Peterson, T. Tamura, F.B.S. Paerels, J.S. Kaastra, E. Belsole, H. Bohringer, G. Branduardi-Raymont, C. Ferrigno, J.W. den Herder, J. Kennea, R.F. Mushotzky, W.T. Vestrand, D.M. Worrall. Astronomy Astrophys., 391 (3), 903 (2002)
- С.А. Гарахин, Е.С. Антюшин, М.М. Барышева, А.Е. Пестов, В.Н. Полковников, Р.С. Плешков, Р.М. Смертин, Н.И. Чхало. ЖТФ, 94 (8), 1250 (2024)
- S.A. Garakhin, I.G. Zabrodin, S.E. Zuev, I.A. Kas'kov, A.Ya. Lopatin, A.N. Nechay, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, N.N. Tsybin, N.I. Chkhalo, M.V. Svechnikov. Quant. Electron., 47 (4), 385 (2017)
- T. Harada, M. Itou, T. Kita. A Grazing Incidence Monochromator With A Varied-Space Plane Grating For Synchrotron Radiation, Proc. SPIE 0503, Application, Theory, and Fabrication of Periodic Structures, DiffractionGratings, and Moire Phenomena II (12 December 1984). DOI: 10.1117/12.944821
- T. Kita, T. Harada, N. Nakano, H. Kuroda. Appl. Opt., 22, 512 (1983)
- А.О. Колесников, Е.А. Вишняков, А.Н. Шатохин, Е.Н. Рагозин. Quant. Electron., 49 (11), 1054 (2019)
- Е.А. Вишняков, А.О. Колесников, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Квантовая электроника, 46 (10), 953 (2016)
- М.В. Зорина, С.А. Гарахин, А.О. Колесников, Е.Н. Рагозин, А.А. Соловьев, А.Н. Шатохин. Квантовая электроника, 54 (1), 58 (2024). [M.V. Zorina, S.A. Garakhin, A.O. Kolesnikov, E.N. Ragozin, A.A. Solov'ev, A.N. Shatokhin. Bull. Lebedev Phys. Institute, 51 (4), S337 (2024). DOI: 10.3103/S1068335624601304]
- J. Beckers, T. van de Ven, R. van der Horst, D. Astakhov, V. Banine. Appl. Sci., 9, 2827 (2019). DOI: 10.3390/app9142827
- А.В. Виноградов, И.А. Брытов, А.Я. Грудский, М.Т. Коган, И.В. Кожевников, В.А. Слемзие. Зеркальная рентгеновская оптика (Машиностроение, Л., 1989)
- N.I. Chkhalo. Russ Microelectron, 53, 397 (2024). DOI: 10.1134/S1063739724600511
- Е.А. Вишняков, А.О. Колесников, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Опт. и спектр., 125 (5), 687 (2018). [E.A. Vishnyakov, A.O. Kolesnikov, E.N. Ragozin, A.N. Shatokhin. Opt. Spectr., 125 (5), 783 (2018). DOI: 10.1134/S0030400X18110346]
- С.А. Гарахин, М.В. Зорина, С.Ю. Зуев, М.С. Михаленко, А.Е. Пестов, Р.А. Плешков, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало. ЖТФ, 90 (11), 1864 (2020). [S.A. Garakhin, M.V. Zorina, S.Yu. Zuev, M.S. Mikhaylenko, A.E. Pestov, V.N. Pleshkov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko. Tech. Phys., 65, 1780 (2020). https://doi.org/10.1134/S1063784220110110]
- N.I. Chkhalo, P.K. Gaikovich, N.N. Salashchenko, P.A. Yunin, S.Yu. Zuev. Thin Solid Films, 598, 156 (2016)
- Электронный ресурс. Режим доступа: https://www.gpixel.com/en/pro_details_1194.html