Диффузия в пористом карбиде кремния
Панкратов Е.Л.1, Мынбаева М.Г.2, Мохов Е.Н.2, Мынбаев К.Д.2
1Нижегородский государственный архитектурно-строительный университет, Нижний Новгород, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: elp2004@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 августа 2010 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2011 г.
На примере диффузии ванадия и эрбия в пористом карбиде кремния проведено моделирование модификации пористой структуры в полупроводнике при термическом отжиге и рассмотрено влияние этой модификации на диффузию примесей. Сопоставление расчетных и экспериментальных профилей распределения эрбия и ванадия в пористом карбиде кремния показывает, что учет модификации пористой структуры, происходящей путем перераспределения вакансий, позволяет удовлетворительно описать диффузию в пористом полупроводнике. Работа выполнена при поддержке гранта Президента России (проект N МК-548.2010.2) и внутривузовского гранта Нижегородского архитектурно-строительного госуниверситета в 2009 г. (приказ N 241).
- П.Г. Черемской, В.В. Слезов, В.И. Бетехтин. Поры в твердом теле. Энергоатомиздат, М. (1990). С. 274
- Е.В. Астрова, В.Б. Воронков, И.В. Грехов, А.В. Нащекин, А.Г. Ткаченко. Письма в ЖТФ 25, 23, 72 (1999).
- S.I. Soloviev, T.S. Sudarshan. In: Porous silicon carbide and gallium nitride: epitaxy, catalysis, and biotechnology applications / Eds R.M. Feenstra, C.E.C. Wood. John Wiley and Sons, London (2008). P. 31
- J. Schmelzer, J. Moller, V.V. Slezov, I. Gutzow, R. Pascova. Quimica Nova 21, 529 (1998)
- G. Muller, K. Brendel. Phys. Status Solidi A 182, 313 (2000)
- N. Ott, M. Nerding, G. Muller, K. Brendel, H.P. Strunk. J. Appl. Phys. 95, 497 (2004)
- V. Depauw, I. Gordon, G. Beaucarne, J. Poortmans, R. Mertens, J.-P. Celis. J. Appl. Phys. 106, 033 516 (2009)
- J. Salonen, E. Makila, J. Riikonen, T. Heikkila, V.-P. Lehto. Phys. Status Solidi A 206, 1313 (2009)
- J. Bai, G. Dhanaraj, P. Gouma, M. Dudley, M. Mynbaeva. Mater. Sci. Forum 457--460, 1479 (2004)
- M. Mynbaeva, A. Lavrent'ev, I. Kotousova, A. Volkova, K. Mynbaev, A. Lebedev. Mater. Sci. Forum 483--485, 269 (2005)
- М.Г. Мынбаева, А.А. Лаврентьев, Е.Н. Мохов, К.Д. Мынбаев. Письма в ЖТФ 34, 17, 13 (2008)
- Yu.A. Vodakov, E.N. Mokhov. Inst. Phys. Conf. Ser. 137, 197 (1994)
- Y. Gao, S.I. Soloviev, T.S. Sudarshan. J. Appl. Phys. 83, 905 (2003)
- М.Г. Мынбаева, Д.А. Бауман, К.Д. Мынбаев. ФТТ 47, 1571 (2005)
- M. Kitayama, T. Narushima, W.C. Carter, R.M. Cannon, A.M. Glaeser. J. Am. Ceram. Soc. 83, 2561 (2000); M. Kitayama, T. Narushima, A.M. Glaeser. J. Am. Ceram. Soc. 83, 2572 (2000)
- З.Ю. Готра. Технология микроэлектронных устройств. Радио и связь, М. (1991). 528 с
- Е.И. Зорин, П.В. Павлов, Д.И. Тетельбаум. Ионное легирование полупроводников, Энергия, М. (1975). 130 с
- H. Ryssel, I. Ruge. Ion implantation. B.G. Teubner, Stuttgart (1978). 360 p
- Ю.Д. Соколов. Прикл. механика 1, 23 (1955)
- E.L. Pankratov. J. Appl. Phys. 103, 064 320 (2008)
- E.L. Pankratov. Eur. Phys. J. B 57, 251 (2007)
- E.L. Pankratov. Mod. Phys. Lett. B 22, 2779 (2008)
- S.A. Reshanov, V.P. Rastegaev. Diam. Relat. Mater. 10, 2035 (2001).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.