Рассмотрены особенности оптических Фурье-спектров электронно-микроскопических изображений структуры тонких пленок TiSi₂, обусловленные наличием корреляций во взаимной ориентации структурных неоднородностей. Показано, что положительные и отрицательные отклонения графиков Гинье от прямой связаны с центральными моментами функции распределения ориентаций структурных неоднородностей в пространстве. На низкотемпературной стадии (T=< 400 K) релаксации степень дальнего порядка в организации микроструктуры возрастает. Это вызвано скоррелированным перераспределением кремния, кислорода и свободного объема в материале. На более высокотемпературной стадии дальний порядок разрушается, что обусловлено началом кристаллизации.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.