Вышедшие номера
Исследования тонкопленочных двухслойных структур типа YBa 2Cu 3O 7- x--изолятор
Грехов И.В.1, Давыдов В.Ю.1, Делимова Л.А.1, Линийчук И.А.1, Михайлов С.Н.1, Семчинова О.К.1, Хайденблют-=SUP=-1-=/SUP=- Т.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 18 февраля 1994 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1994 г.

Методами электронной Оже-спектроскопии, количественного рентгеноспектрального микроанализа и комбинационного рассеяния света проведено комплексное исследование структур ВТСП (YBa2Cu3O7-x)-изолятор( Y2BaCuO5, SrTiO3), изготовленных методом лазерного распыления. Показано, что несмотря на то что слои YBa2Cu3O7-x и изоляторов, полученные в оптимальном технологическом режиме, обладают высокой стехиометричностью и однородностью, область межфазной границы в структурах, изготовленных по указанной технологии, может иметь протяженность, составляющую 20-25% от общей толщины структуры.