Поступила в редакцию: 5 октября 1993 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1994 г.
Рассмотрен метод анализа спектров решеточного отражения от структуры сверхрешетка/подложка на примере спектров решеточного отражения сверхрешеток HgTe-CdTe, использующих свойства объемных решеточных мод Hg-Te и Cd-Te колебаний сплава Hg1-xCdxTe. В общем случае структуры пленка/подложка в области прозрачности подложки спектр отражения воспроизводит дисперсию диэлектрической функции пленки (ее мнимой части), если толщина пленки много меньше длины волны. На основе анализа спектров решеточного отражения представлена модельная композиционная структура сверхрешеток HgTe-CdTe.
- Schulman J.N., McGill T.C. Appl. Phys. Lett. 1979. V. 34. P. 663
- Faurie J.P., Sivananthan S., Rino J. J. Vac. Sci. Technol. A. 1986. V. 4. P. 2096--3000
- Perkowitz S., Rajavel D., Sow I.K., Reno J., Faurie J.P., Jones C., Casselman T.N., Harris K.A., Cook J.W., Schetzina J.F. Appl. Phys. Lett. 1986. V. 49. P. 806--808
- Perkowitz S., Sudharsanan R., Yom S. J. Vac. Sci. Technol. A. 1987. V. 5. P. 3157--3160
- Agranovich V.M., Kravtsov V.E. Sol. St. Commun. 1985. V. 55. P. 85--89
- Козырев С.П., Пырков В.Н., Водопьянов Л.К. ФТТ. 1992. Т. 34. N 8. С. 2372--2381; N 12. С. 3695--3704
- Heavens O.S. Optical Properties of Thin Solid Films. Dover, N.Y., 1965
- Vodopyanov L.K., Kozyrev S.P. Phys. Stat. Sol. (a). 1982. V. 72. P. 737--744
- Grynberg M., Toullec R.Le., Balkanski M. Phys. Rev. B. 1974. V. 9. P. 517--526
- Irvine S.J.C., Tunnicliffe J., Mullin J.B. Mater. Lett. 1984. V. 2. P. 305--307
- Lusson A., Druilhe R., Marfaing Y., Rzepka E. Semicond. Sci. Techn. 1993. V. 8. P. S197--S199
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.