Методом ЭПР в диапазоне 9.3-300 GHz исследованы центры двухвалентного хрома в кристалле SrF₂. Установлено, что при выращивании кристаллов SrF₂:Cr методом Чохральского во фторосодержащей атмосфере гелия ионы Cr²⁺ стабилизируются в позициях катионов решетки. Координационный куб последних при таком замещении оказывается искаженным вдоль оси симметрии C₂ так, что магнитные свойства образующегося комплекса приобретают ромбическую анизотропию. Найдены параметры взаимодействия спиновых состояний комплекса с кристаллическим полем и внешним магнитным полем. В качестве возможной причины искажения структуры кристалла вблизи примесного иона рассматривается эффект Яна-Теллера.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.