Вышедшие номера
Особенности кристаллизации поликристаллических тонких пленок PZT, сформированных на подложке Si/SiO2/Pt
Пронин И.П.1, Каптелов Е.Ю.1, Сенкевич С.В.1, Климов В.А.1, Зайцева Н.В.1, Шаплыгина Т.А.1, Пронин В.П.2, Кукушкин С.А.3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
3Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Petrovich@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 1 июня 2009 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2009 г.

Изучены особенности кристаллизации тонких пленок цирконата-титаната свинца, осажденных на подложку Si/SiO2/Pt методом ВЧ-магнетронного распыления при низкой температуре и отожженных при температуре 540-580oC. В этом интервале температур последовательно наблюдаются два фазовых перехода первого рода: низкотемпературная фаза пирохлора-фаза перовскита I и фаза перовскита I-фаза перовскита II, сопровождающихся усадкой (уменьшением объема пленки). Фазовые превращения были исследованы при помощи атомно-силовой микроскопии, сканирующей электронной микроскопии, рентгенодифракционного анализа и метода визуального (оптического) наблюдения роста островков новой фазы. Обнаружено, что диэлектрические параметры при переходе от фазы I к фазе II претерпевают существенные изменения. Обсуждаются причины наблюдаемых эффектов. Работа выполнена при поддержке РФФИ N 08-02-01352a, 07-08-00542-a, НШ-2628.2008.2, МНТЦ N 3743 и программы РАН "Фундаментальные проблемы механики взаимодействия в технических и природных системах, материалах и средах".