Вышедшие номера
Локальные центры в кристаллах Bi 12SiO 20 нестехиометричного состава
Панченко Т.В.1, Костюк В.Х.1, Копылова С.Ю.1
1Днепропетровский государственный университет, Днепропетровск, Украина
Поступила в редакцию: 5 декабря 1994 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1995 г.

Исследовано влияние дефектов нестехиометрии кристаллов Bi12SiO20 на люкс-амперные характеристики, оптическое поглощение и фоточувствительность последних в области плеча фундаментальной полосы поглощения (3.2-2.6 eV). Обсуждается роль ионов Bi3+ и Bi5+, занимающих позиции ионов Si4+, в образовании глубоких донорных уровней и r-центров медленной рекомбинации.