Статистика вторичной эмиссии, усиленной полем
Гавалян В.Г.1, Лорикян М.П.1, Шихляров К.К.1
1Ереванский физический институт
Поступила в редакцию: 11 августа 1993 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1994 г.
Измерена статистика процесса дрейфа и размножения вторичных электронов в пористых диэлектрических слоях (ПДС), которые находятся в сильном электрическом поле E=104-105 В/см). Проанализирована зависимость результатов измерений от параметров эмиттеров на основе ПДС. Проведена аналогия между этим процессом и газовым разрядом. Показана, что при определенных условиях флуктуации числа электронов размножения можно хорошо выразить формулой, описывающей флуктуации коэффициента газового усиления.
- Garwin E.L., Edgecumbe F. Advances in Electronics and Electron Physics. 1966. Vol. 22
- Лорикян М.П., Кавалов Р.Л., Трофимчук Н.Н., Давтян Э.Е. Изв. АН АрмССР. Физика. 1971. Т. 6. N 9. С. 297
- Лорикян М.П., Кавалов Р.Л., Трофимчук Н.Н., Серов В.Л. Изв. АН АрмССР. Физика. Т. 6. N 9. С. 118
- Лорикян М.П., Кавалов Р.Л., Трофимчук Н.Н. Письма в ЖЭТФ. 1972. Т. 16. N 6. С. 320
- Лорикян М.П., Кавалов Р.Л., Трофимчук Н.Н. Изв. АН АрмССР. Физика. 1973. Т. 8 N 1. С. 33
- Jakobs H., Freely G., Brand F. Phys. Rev. 1952. Vol. 88. P. 492
- Jakobs H. Phys. Rev. 1951. Vol. 84. P. 877
- Трофимчук Н.Н., Лорикян М.П., Кавалов Р.Л. и др. ЖЭТФ. 1975. Т. 69. N 2(8). С. 635
- Гавалян В.Г., Лорикян М.П., Арванов А.Н. ЖТФ. 1983. Т. 53. Вып. 8. С. 1621
- Гавалян В.Г., Лорикян М.П., Арванов А.Н. Изв. АН АрмССР. Физика. 1982. Т. 17. N 2. С. 102
- Арванов А.Н., Ахперджанян А.Г., Гавалян В.Г. и др. РЭ. 1982. Т. 27. N 1. С. 163
- Маркарян Ю.Л. Канд. дис. Ереван, 1985
- Харитонов В.М. ПТЭ. 1956. N 5. С. 45
- Векслер В., Грошов Л., Исаев Б. Ионизационные методы исследования излучений. М.: Гостехиздат, 1950
- Подгорецкий В.П. Автореф. докт. дис. М., 1951
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук