В рамках теории слабой кристаллизации исследованы особенности кристаллизации тонких пленок. В простейшем случае фазовая диаграмма содержит изотропную гексагональную (кристаллическую) и смектическую фазы. В двух последних рассмотрена роль локальных дефектов (дислокаций) в разрушении дальнего порядка. Оказывается, что в кристаллической фазе дислокации не разрушают этого порядка, а в смектической разрушают его на масштабе, экспоненциально большом по малому параметру теории. Поэтому в смектической фазе имеется широкая область масштабов, где имеет место анизотропный скейлинг.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.