Исследование процессов переключения доменной структуры сегнетоэлектрика Sn2P2S6 методом динамической голографии
Грабар А.А., Мужикаш Р.И., Костюк А.Д., Высочанский Ю.М.
Выставление онлайн: 20 июля 1991 г.
Предложен и апробирован метод исследования процессов переключения доменной структуры в сегнетоэлектрике Sn2P2S6, обладающем фоторефрактивным эффектом. Метод основан па регистрации интенсивности двухволнового взаимодействия при изменении направления энергопереноса вследствие переполяризации кристалла в среде с нелокальным механизмом фоторефрактивной записи. Проведено сравнение с известными методами. Получена информация о динамике переключения доменов Sn2P2S6 в слабых электрических полях.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.