Изложены результаты рентгентопографического и электронно-микроскОпического исследований субструктуры полисинтетических кристаллов ZnS и ZnSe. Обнаружена вариация толщины структурных доменов в кристаллах ZnSe. Визуализированы структурные домены ZnS с толщиной порядка 40 Angstrem. Показано, что при 5-процентной ориентированной пластической деформации толщина доменов увеличивается в несколько десятков раз.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.