Предложен оптический метод измерения локального распределения напряженности магнитного поля на поверхности сверхпроводников и магнетиков. Метод основан на использовании эффекта оптической ориентации спинов электронов в полупроводнике, позволяющего сочетать высокую чувствительность к магнитному полю с высоким пространственным разрешением. Предложенный метод дает возможность изучать распределение токов в сверхпроводнике в мейсснеровской области магнитных полей и распределение остаточных токов, циркулирующих в образце при захвате магнитного потока. Результаты проведенных экспериментов подтверждают модель критического состояния, согласно которой после выключения внешнего магнитного поля в сверхпроводнике циркулируют пространственно разделенные токи противоположного направления, обусловленные захватом магнитного потока.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.