Показано, что по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии из измерений компонент тензора кривизны и компонент тензора деформации в плоскости гетерограницы и в направлении, перпендикулярном гетерогранице, можно извлечь информацию о скачках пластической деформации в слоях гетероструктур. На основе этого для двухслойных гетероструктур ряда соединений A^IIIB^V определены плотность дислокаций и толщина области их сосредоточения в подложке.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.