Аномалии физических свойств alpha-формы оксида висмута
Орлов В.Г.1, Буш А.А.1, Иванов С.А.1, Журов В.В.1
1Российский научный центр "Курчатовский институт", Москва, Россия Московский институт радиотехники, электроники и автоматики, Москва, Россия Институт физической химии им. Карпова, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 24 июля 1996 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1997 г.
Исследован ряд физических свойств alpha-Bi2O3 в области температур выше комнатной: тепловое расширение, термостимулированный ток, диэлектрическая проницаемость, электросопротивление, теплоемкость. Были также выполнены рентгенодифракционные измерения и термогравиметрический анализ. В температурном интервале 450-570 K обнаружено несколько особенностей физических свойств оксида висмута: экзотермические максимумы на кривых ДТА и ДСК, небольшой максимум и резкий рост диэлектрической проницаемости монокристалла, скачок и смена термостимулированного тока, резкое падение электросопротивления керамических образцов. В то же время в указанном температурном интервале не было зарегистрировано заметных изменений моноклинной структуры alpha-Bi2O3.
- H.A. Harwig. Z. Anorg. Allg. Chem. 444, 2, 151 (1978)
- T. Takahashi, H. Iwahara, Y. Nagai. J. Appl. Electrochem. 2, 1, 97 (1972)
- А.А. Богуславский, Г.К. Семин. ЖФХ 53, 1, 33 (1979)
- Г.К. Семин, А.В. Парыгин, А.А. Богуславский. Изв. АН СССР. Сер. физ. 49, 7, 1412 (1985).
- E.A. Kravchenko, V.G. Orlov. Z. Naturforsch. 49a, 2, 418 (1994)
- N.E. Ainbinder, G.A. Volgina, E.A. Kravchenko, A.N. Osipenko, A.A. Gippius, Suan Hai Fam, A.A. Bush. Z. Naturforsch. 49a, 2, 425 (1994).
- В.Г. Гребинник, В.Н. Дугинов, В.А. Жуков, Э.А. Кравченко, И.А. Кривошеев, Т.Н. Мамедов, Б.А. Никольский, В.Г. Ольшевский, В.Г. Орлов, В.Ю. Помякушин, А.Н. Пономарев, В.А. Суетин. ЯФ 56, 2, 71 (1993)
- V.N. Duginov, V.G. Grebinnik, T.N. Mamedov, V.G. Olshevsky, V.Yu. Pomjakushin, V.A. Zhukov, B.F. Kirillov, B.A. Nikolsky, V.G. Orlov, A.V. Pirogov, A.N. Ponomarev, V.A. Suetin, E.A. Kravchenko. Hyperfine Inter. 85, 1, 197 (1994)
- В.Г. Гребинник, В.Н. Дугинов, В.А. Жуков, Э.А. Кравченко, И.А. Кривошеев, Т.Н. Мамедов, Б.А. Никольский, В.Г. Ольшевский, В.Г. Орлов, В.Ю. Помякушин, А.Н. Пономарев, В.А. Суетин. ЖЭТФ 108, 3(9), 878 (1995)
- А.В. Волкозуб, О.В. Снигирев, В.Г. Орлов, Э.А. Кравченко, А.А. Буш, С.В. Федотов, Л.Н. Холодковская, А.А. Кусаинова. ФТТ 33, 8, 2506 (1991).
- A.I. Kharkovskii, V.I. Nizhankovskii, E.A. Kravchenko, V.G. Orlov. Z. Naturforsch. 51a, 3--4, 665 (1996)
- X-ray diffraction data cards. ASTM. Card N27-53. Philadelphia (1981).
- В.В. Журов, С.А. Иванов, И.В. Ольховик, Е.Д. Политова. Кристаллография 38, 4, 186 (1993)
- Ю.А. Горохватский, Г.А. Бордовский. Термоактивационная токовая спектроскопия высокоомных полупроводников и диэлектриков. М. (1991). 245 с
- М. Лайнс, А. Гласс. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы. М. (1981). 736 с
- J.R. Tessman, A.H. Kahn. Phys. Rev. 92, 4, 890 (1953)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук