Вышедшие номера
Глубокие примесные состояния и собственные дефекты в фоторефрактивных кристаллах Cd1-xFexTe
Гнатенко Ю.П.1, Гамерник Р.В.1, Фарина И.А.1, Бабий П.И.1
1Институт физики Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 5 августа 1997 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1998 г.

Изучены низкотемпературные оптические и фотоэлектрические свойства кристаллов Cd1-xFexTe (x=0.0038), что позволило получить информацию об оптическом качестве таких кристаллов, природе их неоднородности, а также обнаружить глубокие примесные центры Fe2+ и однократно заряженные акцепторные комплексы. Установлен анизотропный характер таких комплексов, которые включают двукратно заряженную вакансию кадмия и ионизированный донор. Показано, что их анизотропия определяется природой донорного атома и его месторасположением в кристаллической решетке (на катионном или анионном узле). Исходя из наличия в исследуемых кристаллах реальных глубоких примесных центров и акцепторных комплексов предложен механизм возникновения в них фоторефрактивного эффекта. Впервые отмечена возможность проявления анизотропии фоторефрактивных свойств кристаллов CdTe, содержащих примесные 3d-элементы, не связанной с анизотропией электрооптического эффекта.