Глубина формирования отраженного пучка мягкого рентгеновского излучения в условиях зеркального отражения
Филатова Е.О.1, Шулаков А.С.1, Лукьянов В.А.1
1Институт физики Санкт-Петербургского государственного университета, Петродворец, Россия
Поступила в редакцию: 27 ноября 1997 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1998 г.
В широком диапазоне углов скользящего падения с использованием тормозного излучения рентгеновской трубки измерены спектры отражения системы Si-SiO2 с различными толщинами диоксида в районе Si L2,3-порога ионизации. Экспериментально определена угловая зависимость глубины формирования отраженного пучка мягкого рентгеновского излучения, которая сопоставляется с полученной из теоретического рассмотрения взаимодействия электромагнитного излучения с поверхностью изотропного твердого тела.
- А.А. Эйхенвальд. ЖРФХО 41, 131 (1909)
- А.С. Виноградов, Е.О. Филатова, Т.М. Зимкина. ФТТ 25, 4, 1120 (1983)
- Е.О. Филатова, А.С. Виноградов, Т.М. Зимкина. ФТТ 27, 4, 997 (1985)
- Е.О. Филатова, А.С. Виноградов, И.А. Сорокин, Т.М. Зимкина. ФТТ 25, 5, 1280 (1983)
- Е.О. Филатова, А.С. Виноградов, Т.М. Зимкина, И.А. Сорокин. ФТТ 27, 4, 991 (1985)
- E. Filatova, A. Stepanov, C. Blessing, J. Friedrich, R. Barchewitz, J.-M. Andre, F. Le Guen, S. Bac, P. Troussel. J. Phys: Condens. Matter. 7, 2731 (1995)
- Е.О. Филатова, А.И. Степанов, В.А. Лукьянов. Опт. и спектр. 81, 3, 458 (1996)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
