Короткопериодные сверхрешетки (СР) с периодом от 7 до 22 nm выращены методом молекулярно-лучевой эпитаксии в системе CdF₂-CaF₂ на Si(111). Произведены рентгенодифракционные измерения полученных структур в различных геометриях отражения и прохождения, продемонстрировавшие возможность создания таких объектов с высоким кристаллическим совершенством. Рассмотрены особенности дифракции от СР со слоями, обладающими существенно различными дифрагирующими способностями и деформацией разного знака по отношению к подложке. Моделированием в полукинематическом приближении получены основные параметры выращенных СР. Показана применимость модели идеальной СР к объектам, имеющим структурные дефекты.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.