О распределении величины микротвердости по глубине образца
Герасимов А.Б.1, Чирадзе Г.Д.1, Кутивадзе Н.Г.1, Бибилашвили А.П.1, Бохочадзе З.Г.1
1Тбилисский государственный университет, Тбилиси, Грузия
Поступила в редакцию: 20 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.
С целью уточнения механизма микроиндентирования, на основе анализа экспериментальных данных по влиянию спектрального состава и интенсивности света на микротвердость монокристаллического Si и проведенных теоретических расчетов установлено существование около поверхности Si тонкого слоя высокой твердости, который оказывает разное влияние на величину микротвердости в зависимости от глубины внедрения индентора в вещество.
- G.C. Kuczynsky, R.H. Hochman, Phys. Rev. 108, 946 (1957)
- П.П. Кузьменко, Н.Н. Новиков, Н.Р. Горидько, Л.И. Федоренко. ФТТ 8, 6, 1732 (1966)
- В.М. Глазов, В.Н. Вигдорович. Микротвердость металлов и полупроводников. Металлургия, М. (1969) 248 с
- В.К. Григорович. В кн.: Методы испытания на микротвердость. Наука, М. (1965). С. 35
- В.И. Круглов. Уч. зап. ЛГУ 386, 119 (1976)
- В.П. Алехин. Физические закономерности микропластической деформации разрушения поверхностных слоев твердого тела. Автореф. дис. Киев (1978)
- Ю.С. Боярская, М.И. Вальковская. Микротвердость. Штиинца, Кишинев (1981). С. 67
- П.Д. Уорен, С.Г. Робертс, П.Б. Хирш. Изв. АН СССР. Сер. физ. 51, 4, 812 (1987)
- А.Б. Герасимов, З.В. Джибути, Г.Д. Чирадзе. Сообщения АН Грузии 142, 1, 53 (1991)
- А.Б. Герасимов, Г.Д. Чирадзе. Сообщения АН Грузии 142, 1, 61 (1991)
- Ю.И. Головин, А.И. Тюрин. ФТТ 37, 5, 1562 (1995)
- А.Б. Герасимов, Г.Д. Чирадзе, Н.Г. Кутивадзе, А.П. Бибилашвили, З.Г. Бохочадзе. ФТТ 40, 3, 503 (1998)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук