Изменения в реальной структуре монокристаллов CdTe под влиянием импульсного облучения рубиновым и неодимовым лазерами, связанные главным образом с тепловым воздействием на тонкий поверхностный слой, были изучены методом отражения рентгеновской дифракционной топографии. В зависимости от энергии излучения наблюдались значительные изменения реальной структуры поверхностного слоя кристаллов: интегральное улучшение структуры поверхностного слоя за счет релаксации микронапряжений (1), образование, развитие и деградация упорядоченной двойниковой структуры рекристаллизации (2), формирование мелкоячеистой дислокационной структуры (3). Эти изменения практически не затрагивали остальной объем кристаллов. Обсуждаются механизмы этих изменений, а также способы их наблюдения и контроля. Работа выполнялась при финансовой поддержке РФФИ, (гранты N 98-02-18309 и N 97-02-18331).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.