Вышедшие номера
Исследование температурной зависимости параметра кристаллической решетки SmS
Каминский В.В.1, Шаренкова Н.В.1, Васильев Л.Н.1, Соловьёв С.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Vladimir.Kaminski@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 1 июня 2004 г.
Выставление онлайн: 20 января 2005 г.

Методами рентгеновской дифрактометрии исследовано поведение параметра решетки монокристаллов SmS в температурном интервале 100-700 K. Наблюдаемые особенности связываются с температурным изменением степени заполнения мультиплетных уровней основного терма f-оболочки иона Sm2+. Получены температурные зависимости коэффициента теплового расширения SmS. Показано, что в образцах с выраженным эффектом генерации ЭДС при нагреве на поведении постоянной решетки сказывается переход дефектных ионов самария из двух- в трехвалентное состояние, а в основе эффекта лежат фазовые переходы в SmS.