Исследование электронных спектров благородных металлов методом обратного рассеяния электронов низких энергий
Попик Т.Ю.1, Шпеник О.Б.1, Попик Ю.В.2
1Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина
2Ужгородский государственный университет, Ужгород, Украина
Email: an@zvl.iep.uzhgorod.ua
Поступила в редакцию: 28 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2001 г.
С помощью разработанного гипоциклоидального электронного спектрометра с высоким энергетическим (=<50 meV) и угловым разрешениями (~1o-5o) методом спектроскопии обратного рассеяния электронов низких энергий (0-10 eV) проведены исследования особенностей плотности заполненных электронных состояний благородных металлов (Au, Ag, Cu) ниже уровня Ферми. Установлено, что особенности в спектрах отражения электронов хорошо согласуются с экстремумами теоретически рассчитанных энергетических распределений плотностей состояний. Полученные результаты существенно дополняют данные методов ультрафиолетовой и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопий.
- В.В. Немошкаленко, В.Г. Алешин. Электронная спектроскопия кристаллов. Наук. думка, Киев (1983). 288 с
- Электронная и ионная спектроскопия твердых тел / Под ред. Л. Фирменса, Дж. Вэнника, В. Декейсера. Мир, М. (1981). 467 с
- Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности / Под ред. Х. Ибаха. Зинатне, Рига (1980). 315 с
- Д. Вудраф, Т. Делчар. Современные методы исследования поверхности. Мир, М. (1989). 568 с
- Т.А. Карлсон. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. Машиностроение, Л. (1981). 431 с
- Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. Сиха. Мир, М. (1987). 598 с
- Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. Мир, М. (1979). 582 с
- С.А. Комолов. Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности. Изд-во ЛГУ, Л. (1986). 180 с
- Leon Sanche. J. Chem. Phys. 71, 12, 4860 (1979)
- О.Б. Шпеник, Н.М. Эрдевди, Н.И. Романюк, Т.Ю. Попик, А.Н. Завилопуло. ПТЭ 41, 1, 66 (1998)
- N.E. Christensen, B.O. Seraphin. Phys. Rev. B4, 3321 (1971)
- D.A Shirley. Phys. Rev. B5, 12, 4709 (1972)
- J.L. Freeouf, M. Erbudak, D.E. Eastman. Solid State Commun. 13, 7, 771 (1973)
- S. Hufner, G.K. Wertheim, N.V. Smith, M.M. Traum. Solid State Commun. 11, 2, 323 (1972)
- V.V. Nemoshkalenko, A.I. Senkevich, M.A. Midlina, V.G. Aleshin. Phys. State. Sol. B56, 2, 771 (1973)
- S. Hufner, G.K. Wertheim. Phys. Lett. 47A, 5, 349 (1974)
- С.А. Фридрихов, С.М. Мовин. Физические основы электронной техники. Высшая шк., М. (1982). 607 с
- В.Н. Строков, А.В. Штанько, С.А. Комолов. Вестн. ЛГУ 4, 1, 7 (1990)
- R.C. Dobbyn, M.L. Williams, J.R. Cuthill, A.J. McAlister. Phys. Rev. B2, 16, 1563 (1970)
- J.A. Knapp, F.J. Himpsel, D.E. Eastman. Phys. Rev. B19, 4952 (1979)
- N.V. Smith, R.L. Benbow, Z. Hurych. Phys. Rev. B21, 4331 (1980)
- Э.Зенгуил. Физика поверхности. Мир, М. (1990). 536 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.