Вышедшие номера
Фрактонные колебания на нанотрещинах в стеклообразном SiO2 по данным рамановского исследования
Чмель А.Е.1, Смирнов А.Н.2, Шашкин В.С.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Всероссийский научный центр "ГОИ им. С.И. Вавилова", Санкт-Петербург, Россия
Email: chmel@ae.ioffe.rssi.ru
Поступила в редакцию: 23 октября 2000 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2001 г.

Методом низкочастотной рамановской спектроскопии исследована чувствительность динамических (колебательных) свойств фрактальной структуры нанотрещин в стеклообразном SiO2 к механической и температурной предыстории образца. Материал получен вакуумно-компрессионным спеканием продуктов золь-гельного синтеза. После спекания на месте микротрещин, в процессе предварительной механической обработки образца, остаются дефекты сплошности наноструктурного масштаба, обладающие фрактальной геометрией. Признаками таких дефектов являются отсутствие бозонного пика в рамановском спектре и монотонное спадание интенсивности по закону рассеяния света на акустических колебаниях фракталов. По характеру рассеяния определены условия возникновения фрактальной структуры и ее зависимость от жесткости стенок нанотрещин.