Вышедшие номера
Рентгеновский и люминесцентный анализ мелкодисперсных пленок beta-FeSi2, сформированных в Si импульсной ионной обработкой
Баязитов Р.М.1, Баталов Р.И.1, Теруков Е.И., Кудоярова В.Х.
1Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского, ФИЦ Казанский научный центр РАН, Казань, Россия
Email: kudoyarova@pop.ioffe.rssi.ru
Поступила в редакцию: 8 февраля 2001 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2001 г.

Мелкодисперсные пленки beta-FeSi2 сформированы путем имплантации монокристаллического Si ионами Fe+ с энергией 40 keV и дозой 1· 1016 cm-2 с последующей наносекундной ионно-импульсной обработкой. Результаты скользящей рентгеновской дифракции свидетельствуют о формировании сильно текстурированной пленки, состоящей из включений фазы силицида железа (beta-FeSi2) с размерами зерен около 40 nm, окруженных поликристаллической Si-матрицей. Данные фотолюминесцентной спектроскопии свидетельствуют о том, что сигнал фотолюминесценции с максимумом около 1.56 mum, наблюдающийся до 210 K, связан с прямыми межзонными переходами в beta-FeSi2, а не с вкладом дислокационной линии D1. Работа выполнена при поддержке НОЦ КГУ в рамках программы "Материалы и технологии XXI века" (BRHE REC-007), Российского фонда фундаментальных исследований в рамках программы (N 01-02-16649), а также госпрограммы МНРФ (проект N 9B 41.108Ф).