Вышедшие номера
Исследования процессов кристаллизации тонких пленок гексагональных ферритов Ba-M
Камзин А.С.1, Вей Фулинь, Янг Зхенг, Лиу Хсиоахси
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия Исследовательский институт магнетизма и магнитных материалов, Ланчжоуский университет, Ланчжоу, Китайская Народная Республика
Email: KAMZIN@spb.cityline.ru
Поступила в редакцию: 2 ноября 2001 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2002 г.

Изучена технология синтеза тонких пленок феррита Ba-M методом реактивного радиочастотного диодного распыления керамической мишени BaO· nFe2O3. Подложками служили предварительно отожженные пластинки из кварца. Исследовано влияние количества ионов Ba на кристаллические, магнитные свойства и микроструктуру пленок. Обсуждаются связи между величиной dHc/dT и микроструктурой пленки. Полученные пленки удовлетворяют требованиям, предъявляемым к носителям информации со сверхвысокой плотностью записи. Работа выполнена при поддержке Китайского фонда поддержки науки (National Scientific Foundation of China) и Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 01-02-17889).